掃描探針顯微鏡（SPM）針尖
1、STM針尖：W絲、Pt-Ir絲。超高真空一般用W絲，通過電化學腐蝕、高溫退火或原位處理以去除氧化層。大氣中一般用Pt-Ir絲，直接剪切制成。2、AFM針尖：Si、SiN4材料，通過微加工光刻的方法制備。......閱讀全文
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微
AFM熱學測量
熱學測量目前，微納米尺度下的熱物性研究受到了極大的挑戰：一方面，許多熱物性的基礎概念性問題不清楚，如微觀尺度下非平衡態的溫度如何定義等；另一方面，傳統測試系統由于自身精度限制，很多熱物性參數都無法直接測量，因此，無論是微納尺度下熱傳導等的理論機制研究，還是微納電子學和能源器件中的熱傳導、熱耗散、熱轉
AFM的介紹
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱；現
AFM形態結構
形態結構 作為新興的形態結構成像技術，AFM實現了對接近自然生理條件下生物樣品的觀察。這主要由于它具備以下幾個特點: 1).與掃描電鏡和透射電鏡這些高分辨的觀測技術相比，樣品制備過程簡便，可以不需染色、包埋、電鍍、電子束的照射等處理過程; 2).除對大氣中干燥固定后樣品的觀察外，還能對液體中樣
快速AFM－技術
快速AFM 技術通常的AFM掃描速度較慢，不能滿足許多動態現象的研究需求，快速AFM 技術(high speed?AFM，HS-AFM)的核心限制因素是微懸臂探針的自然帶寬，其在真空、大氣及液體環境下分別是幾赫茲，幾千赫茲和幾萬赫茲。因此，在液體環境下更容易實現HS-AFM，但還需要具有高帶寬(兆赫
AFM電學測量
電學測量如果微懸臂是用導電材料制成或外層鍍有導電金屬層，則探針可作為一個移動電極來施加電壓和探測電流，從而來研究材料的微區電學性質，該技術通常稱為導電原子力顯微術(conductive-AFM，C-AFM)。利用導電原子力顯微術可以探測樣品的表面電荷、表面電勢、表面電阻、微區導電性、微區介電特性、非
AFM應用實例
應用實例1．應用于紙張質量檢驗。 2．應用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．評定材料納米尺度表面形貌特征陶瓷膜表面形貌的三維圖象
AFM位置檢測
位置檢測部分主要是由激光和激光檢測系統組成。而反饋系統中主要包含一系列的壓電陶瓷管。壓電陶瓷是一種性能奇特的材料，當在壓電陶瓷對稱的兩個端面加上電壓時，壓電陶瓷會按特定的方向伸長或縮短。而伸長或縮短的尺寸與所加的電壓的大小成線性關系。即可以通過改變電壓來控制壓電陶瓷的微小伸縮。通常把三個分別代表X，
AFM力學測量
力學測量在納米材料和器件的諸多性質中，力學性質不僅面廣而且也是評價納米材料和器件的主要指標，是納米材料和器件得以真正應用的關鍵。目前關于AFM的微納米力學研究，已在納米材料力學性質、納米摩擦等領域取得了較大進展。在AFM接觸模式下，研究樣品材料微納尺度內的形貌和力學性質(包括楊氏模量、硬度、粘彈性、
AFM曲線測量
曲線測量SFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當微懸臂固定端被垂直接近，然后離開樣品表面時，微懸臂和樣品間產生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近、甚至壓入樣品表面，然后脫離，此時原子力顯微鏡/AFM測量并記錄了探
AFM光學測量
光學測量突破光學衍射極限實現納米級的光學成像與探測，一直是光學技術發展的前沿。2014 年諾貝爾化學獎授予了突破光學衍射極限的超分辨光學顯微成像技術，包括受激發射損耗顯微術、光敏定位顯微術、隨機光學重建顯微術、飽和結構照明顯微技術等。將AFM與光學技術結合起來，可以研究微納米尺度下的光學現象和進行光
AFM相移模式
相移模式(相位移模式)作為輕敲模式的一項重要的擴展技術，相移模式(相位移模式)是通過檢測驅動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質等。因此利用相移模式(相位移模式)，可以在納米尺度上獲得樣品表面局
AFM磁學測量
磁學測量磁性納米結構和材料在高密度磁存儲、自旋電子學等領域有著廣泛的應用前景，高空間分辨的磁成像和磁測量技術將有利于推動磁性納米結構和材料的研究。基于掃描探針及其相關技術，發展出一系列納米磁性成像與測量的技術和方法，包括磁力顯微術、磁交換力顯微術、掃描霍爾顯微術、掃描超導量子干涉器件顯微術、掃描磁共
AFM應用舉例
?AFM應用舉例由于原子力顯微鏡對所分析樣品的導電性無要求，因此使其在諸多材料領域中得到了廣泛應用。透明導電的ITO薄膜，隨著成膜方法、膜厚、基底溫度等成膜條件變化，而表面形貌不同。將膜厚120nm（左）與450nm（右）的ITO薄膜進行比較時，隨著膜厚的增加，每個結晶顆粒明顯地長大。另外，明顯地觀
AFM檢測技術
? ? ? 原子力顯微鏡(Atomic Forcc Microscopc,AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning FOrccMicroscopc,sFM),是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡,優于光學衍射極限1000倍。 ADM811原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德?賓寧與斯福
AFM工作原理
AFM工作原理?????????將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個微小的針尖，其尖端原子與樣品表面原子間存在及極微弱的排斥力，利用光學檢測法或隧道電流檢測法，通過測量針尖與樣品表面原子間的作用力獲得樣品表面形貌的三維信息。圖1 AFM?工作原理示意圖?下面，我們以激光檢測原子力顯微鏡
原子力顯微鏡的由來
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1
AFM和STM有什么不同呢？
? ? ? ?掃描隧道顯微鏡STM(scanning tunneling microscopy, STM) 于1982 年, 由IBM 瑞士蘇黎世實驗室的科學家Binning 等發明。STM的原理是利用針尖和樣品之間的隧道電流對樣品表面進行表征。所以理論上它只適用于導電樣品，因而限制了其應用范圍。但
SPM108重金屬消解儀
SPM108重金屬消解儀采用紅外加熱的鋁模塊消化技術，具有升溫迅速、加熱均勻、熱效率高等優點；人性化的操作方式，簡單易用；結合高精度與人性化的智能溫度與時間控制技術，為加熱消解提供最大的方便。獨特的回流技術確保消化的完整性，完善的防樣品交叉污染技術，確保各個消化樣品的獨立性。
掃描探針顯微鏡（SPM）理想針尖模型
1.分辨率極大，所以針尖尺寸要小2.探測表面信息，而不是針尖-樣品復合系統在理想針尖模型下，STM探測的是樣品表面態密度在針尖位置處的值STM中，樣品加不同極性偏壓將分別反映樣品的價帶和導帶的空間分布。正偏壓下反應導帶、負偏壓下反應價帶。
島津SPM8100FM的應用領域
原子力顯微鏡經過三十年的發展，技術趨于成熟，在真空下可以達到“原子級”分辨率。但是在實際應用中，絕大多數實驗環境需要大氣環境甚至液體環境。這兩種環境下探針固有的低Q值使圖像分辨率急劇變差，甚至無法達到納米水平。SPM-8100FM真是為了解決此困境而生。運用創新性的調頻技術，SPM-8100FM突破
原子力顯微鏡的技術特點與研發歷史
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的
原子力顯微鏡特點
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的
實驗室檢驗檢測工具掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡MFM等等)的統稱,是國際上近年發展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技
原子力顯微鏡（AFM）之位置檢測部分
在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，當針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂cantilever擺動，所以當激光照射在cantilever的末端時，其反射光的位置也會因為cantilever擺動而有所改變，這就造成偏移量的產生。在整個系統中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉換成電的信號，以
實際樣品研究時如何選擇形貌觀察手段
光學顯微鏡光學顯微技術是在微米尺度上觀察礦物形貌及結構的較普遍的方法，有實體、偏光和反光3種類型。實體顯微鏡能較為直觀地放大物體，放大倍數不高，一般為幾倍至100倍，可以觀察礦物形態、解理以及表面較明顯的微形貌結構。偏光顯微鏡能放大數十倍到數百倍，可以觀察礦物的雙晶、解理、塊狀或隱晶集合體形態等特征
AFM的位置檢測部分
位置檢測部分在原子力顯微鏡/AFM的系統中，當針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂擺動，所以當激光照射在微懸臂的末端時，其反射光的位置也會因為懸臂擺動而有所改變，這就造成偏移量的產生。在整個系統中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉換成電的信號，以供SPM控制器作信號處理。
AFM位置檢測部分
位置檢測部分在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，當針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂cantilever擺動，所以當激光照射在微懸臂的末端時，其反射光的位置也會因為懸臂擺動而有所改變，這就造成偏移量的產生。在整個系統中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉換成電的信號，以供SPM控制器作信
新型數字式原子力顯微鏡的研制與應用研究
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}? ? ? ? 以掃描隧道顯微鏡(STM)與原子力顯微鏡(AFM)為代表的掃描探針顯微鏡(SPM)技術,是納米技術發展的
布魯克推出納米級研究工具MultiMode－8HR－AFM
分析測試百科網訊 近日，布魯克納米表面事業部宣布推出MultiMode 8-HR原子力顯微鏡（AFM），它能為納米力學帶來了新的功能，也為擁有世界上最高分辨率，經過現場驗證的，使用最廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM）帶來了更快的成像速度。新的納米力學功能可以使科學家獲得更廣的粘連彈性研究中的斜坡頻率