河南大學近千萬采購掃描探針顯微鏡、質譜這些品牌中標
分析測試百科網訊 近日，河南大學采購了一批科研設備，并發布了中標公告。此次招標采購內容包括離子淌度-四級桿-超高分辨質譜儀，掃描探針顯微鏡，臺式掃描電子顯微鏡各一臺，總中標金額近千萬元。 1、采購項目編號：豫財招標采購-2020-578 2、采購項目名稱：河南大學采購科研設備一批（2020-08）項目 3、采購方式：公開招標 4、招標公告發布日期：2020年06月17日 5、評審日期：2020年07月09日 中標情況如下：包號采購內容供應商名稱品牌（如有）規格型號數量中標金額豫政采(2)20200615-1離子淌度-四級桿-超高分辨質譜儀 1臺河南博奧貿易有限公司Thermo ScientificOrbitrap Exploris 48017388000豫政采(2)20200615-2掃描探針顯微鏡 1臺河南潤梓貿易有限公司OxfordMFP 3D Origin+11318000豫政采(2)20200615-3臺......閱讀全文
掃描探針顯微鏡的薄膜斷面定位方法
? ? ?掃描力顯微鏡是一種利用尖銳的微型探針在樣品表面上方掃描來檢測樣品表面的一些性質，如形貌特征和表面電勢等等。如圖1所示，當針尖在樣品表面掃描時，針尖與樣品的相互作用力使得微懸臂發生形變。反饋系統根據檢測器檢測到的形變結果不斷調整針尖和樣品間的距離，從而保持針尖和樣品的作用力恒定。對于表面形貌
掃描探針顯微鏡中RMS是什么意思
掃描探針顯微鏡以其分辨率極高（原子級分辨率）、實時、實空間、原位成像，對樣品無特殊要求（不受其導電性、干燥度、形狀、硬度、純度等限制）、可在大氣、常溫環境甚至是溶液中成像、同時具備納米操縱及加工功能、系統及配套相對簡單、廉價等優點，廣泛應用于納米科技、材料科學、物理、化學和生命科學等領域，并取得許多
掃描探針顯微鏡優勢及注意事項
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}? ? ? ?掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用探針在樣本上掃
掃描探針顯微鏡和掃描電子顯微鏡有哪些不同點？
? ? ?掃描探針顯微鏡具有極高的分辨率。它可以輕易的“看到”原子，這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的。掃描探針顯微鏡得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨率圖像。而不同于某些分析儀器是通過間接的或計算的方法來推算樣品的表面結構。掃描探針顯微鏡使用環境寬松。電子顯微鏡等儀器對工作環境要求比較苛
掃描探針顯微鏡與掃描電子顯微鏡到底有何區別？
掃描探針顯微鏡與掃描電子顯微鏡都是顯微鏡，但他們的功能和用途不同，工作原理也不一樣。當然了，價格上也是不一樣的，掃描電子顯微鏡要貴得多。?１、功能?掃描探針顯微鏡具有極高的分辨率。它可以輕易的“看到”原子，這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的。掃描探針顯微鏡得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨
掃描探針電子能譜儀控制系統的研制
報道了自行搭建的掃描探針電子能譜儀(SPEES)控制系統的硬件及軟件實現。該系統包括探針三維掃描控制、譜儀通過能電壓掃描控制及樣品電流反饋控制,在針尖控制上能夠實現x、yz、三個方向上的定位以及恒高模式與恒流模式的掃描,在電子能譜測量上能夠實現能量定點模式和能量掃描模式。對石墨表面Ag島及石墨表面
掃描探針顯微鏡的先進控制技術研究
? ? ?隨著科學技術的發展,科學家和工程師們對掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)的性能也提出越來越高的要求。掃描探針顯微鏡具有高精度成像、納米操縱等功能,它已經廣泛物理、化學、生物、醫學等基礎學科,以及材料、微電子等應用學科。 如今SPM的工作速度已經
掃描探針顯微鏡的性能及應用研究
掃描探針顯微鏡是一種強有力的表面分析儀器,它主要包括掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM).敲擊模式的AFM更是被廣泛地用來研究各種材料的表面及微觀結構.但是由于敲擊模式工作原理的復雜性,為了得到真實的樣品結構,就必須選擇合適的掃描參數.該文用敲擊模式AFM研究了不同材料的微觀結構,研究了
掃描探針顯微鏡原理和特點是哪些
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激
掃描探針顯微鏡使用應注意以下幾點
相比于普通顯微鏡，掃描探針顯微鏡的分辨率更高，且它所得到的都是實時，真實的高分辨率圖像，也正是由于這些優勢，掃描探針顯微鏡的應用范圍也不在不斷擴大，無論是物理、化學、生物、醫學等基礎學科，還是材料、微電子等應用學科，我們都可以看到他的身影。 為了有效提升掃描探針顯微鏡的準確度，以及延長設備的使用壽
掃描探針顯微鏡（SPM）粗調定位裝置的要求
粗調定位裝置的要求：1、能把Tip從毫米距離逼近到距離樣品5nm范圍而不會撞針。2、粗調進針裝置應有大的運動范圍和小到5nm的步進精度。
掃描電化學顯微鏡的探針驅動電路
引言 掃描電化學顯微鏡(SECM)是80年代發展起來的一種電化學現場檢測新技術。該技術驅動非常小的電極(探針) 在靠近樣品處進行掃描,樣品可以是金屬、半導體、高分子、生物基底等材料。SECM具有化學靈敏性，可測量微區內物質氧化或還原所產生的電化學電流，從而獲得對應的微區電化學和相關信息。它主要由電
掃描探針顯微鏡功不可沒的歷史發展
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px
掃描探針顯微鏡與掃描電子顯微鏡四個主要區別
掃描探針顯微鏡，掃描電子顯微鏡，兩者雖然只相差兩個字，但是卻是完全不同的兩種設備，當然，其價格也是不一樣的，那這兩者具體都有哪些差異呢？ 1、從功能上看：和傳統的顯微鏡相比，掃描探針顯微鏡具有極高的分辨率，可以輕易的看到原子，且它所得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨率圖像，從使用環境上來看，掃
Cameca1280型離子探針質譜“尋覓”寶藏
初冬的早晨，記者二人走進了中國科學院地質與地球物理研究所，幾經打聽尋覓，才找到了巖石圈演化國家重點實驗室所在的新辦公樓。在該實驗室李獻華研究員的詳細介紹下，記者見識了目前國內引進的最先進的Cameca1280型離子探針質譜。 走進擺放這臺“體型”頗大、“份量”很沉的離子探針質譜實驗室時，一名法國的
掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡的探針異同
1. cantilever based probe 用于原子力顯微鏡（AFM）。由于原子間作用力無法直接測量，AFM使用的探針是一個附著在有彈性的懸臂上的小針尖，懸臂另一面可以反射激光。 隨著針尖移動，針尖和樣品表面的作用力使得懸臂發生細微的彎曲變化，導致激光反射路徑的變化，從而獲得樣品表面
掃描探針電子能譜儀的數據獲取系統的研制
報道了我們自行搭建的掃描探針電子能譜儀的數據獲取系統的物理實現.該系統包括二維位置靈敏電信號的編碼、讀出以及后續的在線數據采集和離線數據處理.對惰性氣體Ar的初步測量充分驗證了該系統的可靠性與穩定性.?
掃描探針電子能譜儀的研制及相關實驗研究
隨著表面科學的蓬勃發展和表面分析技術的快速進步,人們不再滿足于一種分析技術獲得一種表面信息的狀況,更加希望能夠用一種多功能分析系統較為完備地表征固體表面。將掃描隧道顯微鏡(STM)和電子能譜技術的結合組建的掃描探針電子能譜儀(Scanning Probe electron energy spectr
常見的質譜掃描模式丨DDA－－DIA
Data Dependent Acquisition DDA 1 之前已經提到，DDA可以同時獲得被測代謝物的一級質譜和碎片信息，母離子的篩選主要依靠研究者預先設定的條件，如信噪比，同位素分布，離子強度，選擇top-n等等。該方法由于采用了較窄的m/z（通常為~1Da）窗口進行篩選目標離子減
介電損耗掃描探針顯微鏡及其測量方法
? ? ?該顯微鏡包括有ＰＺＴ掃描管，導電金屬探針及下表面具有導電層的非導電樣品、掃描隧道顯微鏡控制器、頻率信號發生和相位檢測器、前置放大器和微型計算機。采用具有較小或不要直流分量的交流偏壓方法，在探針和被測樣品間電容或介電損耗角隨頻率變化的曲線峰值附近或斜率變化最大處，選擇若干個工作頻率，用電容（
掃描探針顯微鏡研究聚合物表面電特性
? ? ?研究聚合物電介質在亞微米尺度微區結構中的表面電學特性,具有極其重要的理論價值及潛在的應用價值。近年來,采取可靠的實驗手段在顯微結構下有效地表征這些性能已成為聚合物納米復合電介質材料研究領域的焦點問題。研究電介質材料微區結構中的表面電學特性,對于改進與提高聚合物電介質材料的性能和應用水平具有
掃描探針顯微鏡微型鏡盒的制作方法
自從1982年發明了第一臺掃描探針顯微鏡---掃描隧道顯微鏡(簡稱STM)以來，以其極高的分辨率(原子分辨率)，豐富的物理信息(樣品表面電子云密度信息)，以及低廉的造價，立刻得到了極為廣泛的應用。不久，又出現了原子力顯微鏡，磁力顯微鏡等等。它們利用電致伸縮效應的器件如電致伸縮步進器及電致伸縮掃描管，
實驗室檢驗檢測工具掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡MFM等等)的統稱,是國際上近年發展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技
光子掃描隧道顯微鏡探針的研制和應用
? ? 研究光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）探針的研制和PSTM探針在distearyl3，3’-thiodipropionate自組裝分子膜STM研究中的應用。PSTM探針是既能傳輸電子又能傳輸光子的多功能掃描探針。它能夠應用到STM上通過傳輸電子獲得和金屬探針一樣效果，又能應用到近場光學顯微鏡上獲
共聚焦激光掃描顯微鏡的應用及熒光探針
一、LSCM常用的檢測內容及其熒光探針 LSCM檢測內容和應用范圍非常廣泛，以下僅簡單介紹LSCM常用的檢測內容及其熒光探針。 1．細胞內游離鈣 共聚焦激光掃描顯微鏡常用的有Fluo-3、Rhod-1、Indo-1、Fura-2等，前兩者為單波長激光探針，利用其單波長激發特點可直接測量細胞內Ca
掃描探針顯微鏡的最新技術進展及應用
掃描探針顯微鏡(SPM s )是用來探測表面性質的儀器家族,是由B inn ig 和Roh rer 等人最早于1982年發明[1]。雖然SPM 在目前可以測量許多表面的其它性質,但是揭示表面形貌一直是它的主要應用目的。SPM 是我們這個時代中最為有力的表面測量工具,其測量表面特征的尺寸可以從原子間距
一種新型的掃描探針顯微鏡SPM和掃描電子顯微鏡SEM簡介
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px
掃描電子顯微鏡能譜儀
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用于物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器，于2009年8月31日啟用。 技術指標 二次電子像分辨率：1.0nm(15kv)；1.4nm(1kv,減速模式)；2.0nm (1kV)普通模式；加速電壓：0.5 ~ 30kV；放大倍率：×20 ~ ×800,
AFM掃描和探針掃描各有什么不同？
AFM掃描式：因為其結構相對簡單，所以也就更加穩定，其分辨率自然也就比針尖掃描式的更高一些。其缺點就是由于樣品腔的限制，只能容納一定尺寸的樣品，另外樣品掃描器負載的限制，不能掃描太重的樣品，所以對于一些大樣品也就無能為力了。樣品掃描式的掃描器一般都可以更換，可以根據不同的需要選擇不同的掃描器。針尖掃
基于DSP的數字掃描探針顯微鏡的硬件解決方
? ? ? 數字掃描探針顯微鏡（scanning probe microscope，SPM）是研究納米的重要工具，它利用探針和樣品的不同互相作用來探測表面或界面在納米尺度上表現出的物理性質和化學性質，它的問世對表面科學、物理學、微電子學、電子材料學、先進材料和納米材料等研究領域技術重要的意義，與此同