X射線粉末衍射儀對樣品的要求
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定)；塊狀樣品要求具有一個面積小于45px x45px的近似平面;薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px x 45px；其它樣品可咨詢實驗室。......閱讀全文
X射線粉末衍射儀對樣品的要求
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定)；塊狀樣品要求具有一個面積小于45px x45px的近似平面;薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px x 45px；其它樣品可咨詢實驗室。
X射線粉末衍射儀送檢樣品的要求
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。 粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定)； 塊狀樣品要求具有一個面積小于45px×45px的近似平面； 薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px×45px；其它樣品可咨詢實驗室。
X射單晶末衍射儀對檢測樣品的要求
送檢樣品必須為單晶，選擇晶體時要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致。 不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷。 晶體長、寬、高的尺寸均為0.1~0.4mm ，即晶體對角線長度不超過0.5mm(大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力)。
X射線衍射儀中粉末樣品為什么要轉動
為了能增大衍射強度，衍射儀法中采用的是平板式樣品，以便使試樣被X射線照射的面積較大。這里的關鍵：一方面試樣要滿足布拉格方程的反射條件。*另一方面還要滿足衍射線的聚焦條件，使整個試樣上產生的x衍射線均能被計數器所接收。在理想的情況下，x射線源、計數器和試樣在一個聚焦圓上。對于粉末多晶體試樣，在任何方位
多晶粉末X射線衍射儀
多晶粉末X射線衍射儀是一種用于核科學技術領域的分析儀器，于2015年12月10日啟用。 技術指標 1．工作溫度：15-25 °C 2．工作濕度：40-80 % 3．UPS電源：30 kVA（220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz） 4．最大輸出功率：2.2 kW （銅靶）
X射線粉末衍射儀
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質。 3，判斷物質的晶型。 4，計算物質結構的應力。 5，定量計算混合物質的比例。 6，計算物質晶體結構數據。 7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。 比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。2，判斷是何種晶體物質。3，判斷物質的晶型。4，計算物質結構的應力。5，定量計算混合物質的比例。6，計算物質晶體結構數據。7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
原位X射線粉末衍射儀
主要指標:功率50KV*40mA最小步長 0.0001測量角度范圍1-120儀器角度分辨率+/-0.0001功能及應用范圍:X射線衍射儀可對樣品進行結構參數分析，如物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數測定，晶粒尺寸及點陣畸變測定，粉末衍射圖譜擬合修正晶體結，結構分析，結晶度測定，此外還可進行
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。2，判斷是何種晶體物質。3，判斷物質的晶型。4，計算物質結構的應力。5，定量計算混合物質的比例。6，計算物質晶體結構數據。7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
X射線粉末衍射儀概述
X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數目及其排列方式決定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據采集、處理系統四大部分組成。 “X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶
X射線粉末衍射儀簡介
CXRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱
X射線衍射儀（XRD）檢測樣品時有哪些要求？
常規測試、結晶度分析、取向度測試、晶粒尺寸分析、物相分析、小角衍射。 1、送樣者在測試X射線衍射之前，請務必事先了解晶體學的基礎知識和X射線衍射的基本原理。為什么要用X射線衍射儀以及測試項目（晶型、晶粒尺寸、結晶度、取向度、物相分析等）； 2、送樣前，請用簡單易記的英文字母（如：A,B,C…
X射線粉末衍射儀的介紹
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
X射線衍射實驗樣品制備要求
1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于15X20毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常。因此要求測試時合理選擇相應的方向平面。 3、對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，
關于X射線衍射分析的樣品要求介紹
1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常。因此要求測試時合 理選擇響應的方向平面。 3、對于測量金屬樣品的微觀 應力（ 晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單
簡述X射線粉末衍射儀用途
1、判斷物質是否為晶體。 2、判斷是何種晶體物質。 3、判斷物質的晶型。 4、計算物質結構的應力。 5、定量計算混合物質的比例。 6、計算物質晶體結構數據。 7、和其他專業相結合會有更廣泛的用途。 比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
關于X射線粉末衍射儀的簡介
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之
X射線粉末衍射儀和X射線衍射儀又什么區別
“X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶衍射儀器".由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術.單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構.粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析.X射線粉末衍射可以
X射線粉末衍射法
一、基本原理：當一束單色X射線投射到晶體上，晶格中原子散射的電磁波互相干涉和相互疊加，在某一方向得到加強或抵消的現象，稱為衍射。相應的方向稱為衍射方向。晶體衍射X射線的方向與構成晶體的晶胞大小、形狀及入射的X射線波長有關。 衍射光的強度與晶體內原子的類型和晶胞內原子的位置有關，所以，從衍射光束
X射線粉末衍射儀的概念和作用
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
晶體結構鑒定手段或方法
X射線衍射分析、紅外光譜分析X-射線粉末衍射法是利用單色X-射線照射到粉末晶體或多晶樣品上，所得的衍射圖稱為粉末圖。用粉末圖譜解決有關晶體結構等問題的方法稱為X-射線粉末衍射法;通常用Debye-Scherrer照相法。其優點是所需樣品少，甚至0.1mg也可以測定，收集的衍生數據完全，儀器設備和試驗
X射線粉末衍射結構精修
X射線衍射 X射線衍射是一種利用X射線在晶體中的衍射現象來研究物質的物相和晶體結構的方法。X射線衍射的基本原理是根據布拉格方程，當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊
實驗室光學儀器X射線衍射儀的XRD制樣樣品要求
X射線衍射實驗的準確性和實驗得到的信息質量好與壞與樣品的制備有很大關系,因此在做XRD衍射實驗時應合理處理樣品和制備樣品。Xrd可以測量塊狀和粉末狀的樣品,對于不同的樣品尺寸和樣品性質有不同的要求。制備時應考慮晶粒大小、試樣的大小及厚度、擇優取向、加工應變和表面平整度。1)塊狀樣品的要求及制備a.對
粉末x射線衍射儀的基本原理和主要結構
粉末x射線衍射儀的基本原理X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。粉末x射線衍射儀上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發射出高速電
做一次粉末衍射(XRD)需要多少樣品
差不多吧，如果要壓片的話，要研細一點。如果不需要壓片，水平放置就能測定，0.1g也可以。
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
單晶射線衍射儀
單晶射線衍射儀是一種用于化學領域的分析儀器，于2004年1月1日啟用。 技術指標 額定功率:50kv 40mA。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉≤0.
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
上海藥物所新添X射線單晶衍射儀
小分子藥物可以以多種固體形態存在，包括結晶態、溶劑化物、共結晶和無定形態等。固體形態的改變可能導致藥物物化性能發生變化，如熱容、導電率、晶格體積、密度等等。因此，固體狀態不同，可能導致藥物的溶解、溶出性能、藥代、藥動和生物利用度發生改變，進而影響藥物的療效和安全性能。 為了完