飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室 【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量，具 有極高分辨率的測量技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等 工業和研究方面。TOF-SIMS 可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結 構信息。 1.引言 現代飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）源于上個世紀七十年代。它的特點之一是 高靈敏度。對幾乎所有的元素其最低可測量濃度都可以達到ppm（百萬分之一）數量級，有 些可以達到ppb（十億分之一）量級。特點之二是高縱向分辨率。最新一代TOF-SIMS 辨率可以達到二......閱讀全文
飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的主要用途
1. 摻雜劑與雜質的深度剖析2. 薄膜的成份及雜質測定 （金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N5. 工藝工具（離子植入）的高精度分析
飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究
一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類
關于飛行時間二次離子質譜儀的介紹
飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由于給定離子的速度與其質量成反比，因此它的飛行時間會相應不同，較重的離子到達檢測器的時間會比較輕的離子更晚。此類質譜儀可同時檢測所有給定極性的二次離子，并具有極佳質量分辨
一單位880萬采購飛行時間二次離子質譜儀
某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目公開招標公告 項目概況 某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目 招標項目的潛在投標人應在http://www.oitccas.com/獲取招標文件，并于2023年10月30日13點30分（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況 項目編號：OITC-G
飛行時間二次離子質譜法
飛行時間二次離子質譜法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空環境下向樣品射入1次離子束，從樣品的淺表層（1~3nm）釋放出2次離子。將2次離子導入飛行時間（TOF型）質譜儀，就可以獲得樣品最表層的質譜。此時，再通過調
高德英特中標860萬飛行時間二次離子質譜儀采購項目！
近日，高德英特（北京）科技有限公司發布《飛行時間二次離子質譜儀采購項目中標公告》，8589000.00元中標飛行時間二次離子質譜儀。詳細信息如下：一、項目編號：OITC-G230610908（招標文件編號：OITC-G230610908）?二、項目名稱：某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目三、中標（
單臺近1500萬－飛行時間二次離子質譜儀項目中標
一、項目編號：DLDC-2024-GKZB00014 二、項目名稱：飛行時間二次離子質譜儀項目 三、中標（成交）信息 1.中標結果：序號中標金額中標供應商名稱中標供應商地址1投標報價:14750000元浙江鴻煌科技有限公司浙江省杭州市西湖區翠苑新村三區11幢5單元配套用房1620室 四、
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
1160萬！南京大學公開采購飛行時間二次離子質譜儀
公告信息采購項目名稱飛行時間二次離子質譜儀品目貨物/設備/儀器儀表/教學儀器采購單位南京大學行政區域南京市公告時間2023年11月06日 15:45獲取招標文件時間2023年11月06日至2023年11月13日每日上午:9:00 至 11:30 下午:13:30 至 17:00（北京時間，法定節假日
島津－電噴霧離子阱/飛行時間串聯質譜儀共享
儀器名稱：電噴霧-離子阱/飛行時間串聯質譜儀儀器編號：13032571產地：日本生產廠家：日本島津公司型號：LCMS IT/TOF出廠日期：201204購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>高分辨有機質譜室放置地點：理科樓分析中心二層 D216固定電話：010-62797463固定手機：
飛行時間質譜儀特點
飛行時間質譜儀可檢測的分子量范圍大，掃描速度快，儀器結構簡單。這種飛行時間質譜儀的主要缺點是分辨率低，因為離子在離開在離子源時初始能量不同，使得具有相同質荷比的離子達到檢測器的時間有一定分布，造成分辨能力下降。改進的方法之一是在線性檢測器前面的加上一組靜電場反射鏡，將自由飛行中的離子反推回去，初
飛行時間質譜儀定義
飛行時間質譜儀 Time of Flight Mass Spectrometer (TOF) 是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管。由離子源產生的離子加速后進入無場漂移管，并以恒定速度飛向離子接收器。離子質量越大，到達接收器所用時間越長，離子質量越小，到達接收器所用時間越
飛行時間質譜儀類型
飛行時間質譜儀類型有多種。1、按分析目的可分：化驗室飛行時間質譜儀和工業飛行時間質譜儀。2、按分析對象的狀態可分：飛行時間原子質譜儀和飛行時間分子質譜儀。3、按分析對象的屬性可分：飛行時間有機質譜儀、飛行時間無機質譜儀和飛行時間同位素質譜儀等。4、按用途可分：飛行時間生物質譜儀、飛行時間制藥質譜儀、
科普飛行時間質譜儀
質譜儀（Mass spectrometry）是對電離的原子、分子以及分子的碎片進行測量。質譜儀有磁式、四電極的與飛行時間的等多種類型。按照帶電粒子在磁場或電場中的飄移，或他們移動能量來確定它們的荷質比。 在激光質譜檢測中最常用的是四級質譜儀與飛行時間質譜儀Time of Flight Mass
雪迪龍TOFSIMS國產化項目正式啟動，開啟高端分析儀器自主創新新篇章
2025年9月17日，一場承載著高端分析儀器自主化突破使命的盛會——雪迪龍飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）國產化項目啟動儀式，在雪迪龍北京研發生產基地隆重舉行。該項目的正式啟動，不僅標志著雪迪龍在高端質譜儀器領域的國產化征程邁入關鍵階段，更為我國在半導體、新能源等戰略新興產業的核心檢測設備
單臺1200萬！南京大學擬采購一套飛行時間二次離子質譜儀
南京大學2023年10至11月政府采購意向-飛行時間二次離子質譜儀，預算金額1200萬元，預計采購時間為10月份。詳細情況如下：飛行時間二次離子質譜儀項目所在采購意向：南京大學2023年10至11月政府采購意向采購單位：南京大學采購項目名稱：飛行時間二次離子質譜儀預算金額：1200.000000
飛行時間質譜儀和hybrid－ToF質譜儀
? ? 在ToF質譜儀中，我們可以通過某個離子飛越一段長度真空管道的時間推算出它的質荷比（mass-to-charge ratio）。現在，ToF質譜儀的性能已經得到了很大的提升，尤其是在分辨率和準確性方面進步最為明顯。現在，分辨力超過12,000已經是質譜儀的常規標準了。如果按照正確的操作規程，也
飛行時間質譜儀和hybrid－ToF質譜儀
在ToF質譜儀中，我們可以通過某個離子飛越一段長度真空管道的時間推算出它的質荷比（mass-to-charge ratio）。現在，ToF質譜儀的性能已經得到了很大的提升，尤其是在分辨率和準確性方面進步最為明顯。現在，分辨力超過12，000已經是質譜儀的常規標準了。如果按照正確的操作規程，也可以達到
從劍橋實驗室到助力中國技術突破：Kore的TOF質譜技術演進史
1991年成立的Kore Technology，是國際飛行時間質譜儀領域的開拓者之一。自成立以來，Kore始終深耕飛行時間質譜儀領域，為全球高校、科研機構及工業用戶提供高端定制化解決方案。2015年，北京雪迪龍科技股份有限公司控股收購Kore公司，不僅豐富了雪迪龍在高端分析儀器領域的業務布局，也為K
二次離子質譜儀（SIMS）
二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導
二次離子質譜儀簡介
二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。[1] 在傳統的SIMS實驗中，高能一次
飛行時間質譜儀的特點
飛行時間質譜儀可檢測的分子量范圍大，掃描速度快，儀器結構簡單。這種飛行時間質譜儀的主要缺點是分辨率低，因為離子在離開在離子源時初始能量不同，使得具有相同質荷比的離子達到檢測器的時間有一定分布，造成分辨能力下降。改進的方法之一是在線性檢測器前面的加上一組靜電場反射鏡，將自由飛行中的離子反推回去，初始能
飛行時間質譜儀分類方法
飛行時間質譜儀類型有多種。1、按分析目的可分：化驗室飛行時間質譜儀和工業飛行時間質譜儀。2、按分析對象的狀態可分：飛行時間原子質譜儀和飛行時間分子質譜儀。3、按分析對象的屬性可分：飛行時間有機質譜儀、飛行時間無機質譜儀和飛行時間同位素質譜儀等。4、按用途可分：飛行時間生物質譜儀、飛行時間制藥質譜儀、
飛行時間質譜儀的原理
飛行時間質譜儀 Time of Flight Mass Spectrometer (TOF) 是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管。由離子源產生的離子加速后進入無場漂移管，并以恒定速度飛向離子接收器。離子質量越大，到達接收器所用時間越長，離子質量越小，到達接收器所用時間越短，
飛行時間質譜儀的應用
因為ATOFMS可以鑒別組成顆粒物的特殊化合物，因此它可以提供了新視角來考察粒子與周圍氣體以及其他顆粒物之間的動態化學過程。實時化學組分分析可以消除傳統的濾膜或碰撞器氣溶膠采樣方法的固有問題，比如二次化學反應或者半揮發性化合物的損失。3800-ATOFMS的應用包括： · 氣溶膠分析研究 ·
飛行時間質譜儀的特點
飛行時間質譜儀可檢測的分子量范圍大，掃描速度快，儀器結構簡單。這種飛行時間質譜儀的主要缺點是分辨率低，因為離子在離開在離子源時初始能量不同，使得具有相同質荷比的離子達到檢測器的時間有一定分布，造成分辨能力下降。改進的方法之一是在線性檢測器前面的加上一組靜電場反射鏡，將自由飛行中的離子反推回去，初始能
飛行時間質譜儀的特點
飛行時間質譜儀可檢測的分子量范圍大，掃描速度快，儀器結構簡單。這種飛行時間質譜儀的主要缺點是分辨率低，因為離子在離開在離子源時初始能量不同，使得具有相同質荷比的離子達到檢測器的時間有一定分布，造成分辨能力下降。改進的方法之一是在線性檢測器前面的加上一組靜電場反射鏡，將自由飛行中的離子反推回去，初始能
飛行時間質譜儀的使用
??? 飛行時間質譜儀是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管。由離子源產生的離子加速后進入無場漂移管，并以恒定速度飛向離子接收器。離子質量越大，到達接收器所用時間越長，離子質量越小，到達接收器所用時間越短。? 根據這一原理，可以把不同質量的離子按m/z值大小進行分離飛行時間質