多功能存儲器芯片的測試系統設計：提高芯片測試效率1
本文提出了一種多功能存儲器芯片的測試系統硬件設計與實現，對各種數據位寬的多種存儲器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）進行了詳細的結口電路設計（如何掛載到NIOSII的總線上），最終解決了不同數據位寬的多種存儲器的同平臺測試解決方案，并詳細地設計了各結口的硬件實現方法。引言隨著電子技術的飛速發展，存儲器類芯片的品種越來越多，其操作方式完全不一樣，因此要測試其中一類存儲器類芯片就會有一種專用的存儲器芯片測試儀。本文設計的多種存儲器芯片測試系統是能夠對SRAM、Nand FLASH、Nor FLASH、MRAM、EEPROM等多種存儲器芯片進行功能測試，而且每一類又可兼容8位、16位、32位、40位等不同寬度的數據總線，如果針對每一種產品都單獨設計一個測試平臺，其測試操作的復雜程度是可想而知的。為達到簡化測試步驟、減小測試的復雜度、提高測試效率、降低測試成本，特設計一種......閱讀全文
多功能存儲器芯片的測試系統設計：提高芯片測試效率1
本文提出了一種多功能存儲器芯片的測試系統硬件設計與實現，對各種數據位寬的多種存儲器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）進行了詳細的結口電路設計（如何掛載到NIOSII的總線上），最終解決了不同數據位寬的多種存儲器的同平臺測試解決方案，并詳細地設
多功能存儲器芯片的測試系統設計：提高芯片測試效率2
硬件電路設計在測試NAND FLASH時，測試時間長達十個小時不等。在此為提高測試效率，增加測試速度，本設計采用兩套完全一樣且獨立的硬件系統構成。可同時最多測試2片NAND FLASH器件。每一個硬件系統由一個微處理器（NIOSII）加一個大容量FPGA及一個存儲器測試擴展接口（即ABUS接
kit芯片測試多功能推拉力測試機設備
? ? ? ?LB-8600多功能推拉力測試機廣泛用于LED封裝測試，IC半導體封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，光電子元器件封裝測試，汽車領域，航天航空領域，軍工產品測試，研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。設備功能介紹：1.設備整體結構采用五軸定位控制系統，X軸和Y軸行程1
芯片自動測試led多功能推拉力測試機
多功能推拉力測試機產品優勢：1.采用測試工位自動模式，在軟件選擇測試工位后，系統自動到達對應工作位。2.三個工作傳感器，采用獨立采集系統，保證測試精度。3.每項傳感器采用獨立防碰撞及過力保護系統。4.每項測試工位采用獨立安全限位及限速功能。5.人性化的操作界面，人員操作方便。6.高精度傳感系統結合獨
量子點微芯片提高腫瘤療法效率
俄羅斯國立核能研究大學莫斯科工程物理學院與法國香檳—阿登大區南特大學和蘭斯大學的研究者合作，在量子點基礎上研發出一種微芯片，有助于發現高效激酶抑制劑（能夠降低活性的物質），這將有望使抗癌療法的效率提高許多倍。研究結果發表在《科學報告》上。 莫斯科工程物理學院納米工程國際實驗室主要學者、法國蘭斯
射頻/無線芯片測試基礎
射頻／無線系統會同時包含一個發射器和接收器分別用于發送和接收信號。我們先介紹發射器的基本測試，接下來再介紹接收器的基本測試。???? 發射器測試基礎???? 數字通信系統發射器由以下幾個部分構成：???? ＊ ＣＯＤＥＣ（編碼／解碼器）???? ＊ 符號編碼???? ＊ 基帶濾波器（ＦＩＲ）????
推拉力測試機半導體芯片測試設備
推拉力測試機設備特點1.所有傳感器采用高速動態傳感及高速數據采集系統，確保測試數據的準確無誤。2.采用公司獨特研發的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數據采集系統。3.采用公司獨有的安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。4.采用公司獨有的智能燈光控制與調節系統，減少光源對視力的損傷。5.
設計著床芯片系統－重建早期人類妊娠
一項研究展示了一個微工程系統，可建模早期妊娠中發生的多細胞事件。該系統重建了母胎界面，有助于增進人們對胚胎成功著床的基礎機制的理解。相關研究3月16日發表于《自然—通訊》。要成功建立妊娠，胚胎需要能夠連接并植入支持妊娠的母體子宮內膜層。過去的研究表明該過程中發生的異常可能導致并發癥，例如先兆子癇。但
TD1168多功能高空接線鉗大大提高測試效率
TD-1168多功能高空接線鉗又稱高空接線鉗、多功能高空接線鉗、多功能高空測試鉗、可伸縮高空測試鉗、伸縮式高空測試鉗及可伸縮高空接線鉗,多功能高空接線鉗具有種功能，多功能高空接線鉗是測試或檢修電氣設備時進行臨時接線的專用高空接線鉗，多功能高空接線鉗在對不能直接接觸到的電氣設備進行測試或檢修時，該高空
上海微系統所60GHz芯片通過專家測試
在中國科學院部署下，“十一五”期間，上海微系統與信息技術研究所率先開展了60GHz收發芯片及通信系統驗證的開發與研制工作。10月28日，中科院組織專家對60GHz芯片進行了現場在片測試，測試結果表明：各項指標達均達到預先設定的技術指標要求。 60GHz作為未來高速寬帶短距離的通
線路板測試機led芯片測試推拉力測試機
LB-8600多功能推拉力測試機廣泛用于LED封裝測試，IC半導體封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，光電子元器件封裝測試，汽車領域，航天航空領域，軍工產品測試，研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。設備功能介紹：1.設備整體結構采用五軸定位控制系統，X軸和Y軸行程100mm,Z軸
《組委會》「通知」芯片展2025深圳國際存儲器芯片展
2025深圳半導體展暨中國電子信息博覽會（CITE）即將于4月9日至11日在深圳會展中心盛大開幕。本屆博覽會以“深化交流與合作，推動產業創新發展”為主題，通過九大展館的全面展示，為全球半導體行業帶來一場交流與合作的盛宴。本屆展會將重點打造半導體產業鏈館和新型顯示及應用館，全面展示IC設計、半導體材料
led芯片測試機半導體推拉力測試機
半導體推力測試儀是一種應用于航空、航天等領域的先進測試儀器。它可用于測試各種推進系統在推力、推力變化、推力穩定性等方面的表現情況。 半導體推力測試儀亦可稱之為大面積推拉力試驗機，可進行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、剪切、刺破、壓陷硬度、低周疲勞等各項物理力學試驗。還能自動求取大試驗力、斷裂力、屈服
《組委會》「通知」芯片展2025深圳國際芯片封裝測試展
2025深圳半導體展暨中國電子信息博覽會（CITE）即將于4月9日至11日在深圳會展中心盛大開幕。本屆博覽會以“深化交流與合作，推動產業創新發展”為主題，通過九大展館的全面展示，為全球半導體行業帶來一場交流與合作的盛宴。本屆展會將重點打造半導體產業鏈館和新型顯示及應用館，全面展示IC設計、半導體材料
半導體芯片推拉力測試設備
力標精密設備(深圳)有限公司，是一家研發、生產、銷售為一體的多功能推拉力測試機生產廠家，產品主要應用于:微電子行業、半導體封裝、LED封裝、攝像頭模組、功率模塊、光通訊等封裝行業的精密檢測，公司堅持自主創新不斷優化產品核心技術，我們擁有專門的研發團隊，可根據不同客戶的需求提供訂制化精密測量儀器，滿足
大腦芯片首次進行人類測試
每年都有數以百萬計的人經歷著失憶的痛苦。原因有很多：比如大量退伍軍人和足球運動員的創傷性腦損傷，比如老年人的腦中風和老年癡呆癥；甚至我們所有人都會經歷的大腦正常老化。記憶的喪失似乎不可避免，但是一位特立獨行的神經科學家正致力于電子療法。由DARPA資助的南加州大學生物醫學工程師Theodore
微流控芯片測溫測試流程
隨著電子芯片的不斷發展，其測試的結果以及準確性也不斷提高，所以，對于微流控芯片測溫流程還是需要了解清楚才能更好的運行微流控芯片測溫設備。 因為微流控芯片測溫準確性要求的提高，以及減少測試時間降低測試成本的壓力，傳統的采用測試模式調節芯片參數的缺點變得明顯，當芯片在各站點進行測試時，每個站點均需
siRNAs結合生物芯片的實驗設計1
Ambion and Applied Biosystems have joined forces to provide a complete convenient, solution for performing gene silencing experiments and validating t
焊點拉力測試機芯片推拉力測試儀
推拉力測試機采用了AUTO-RANGE技術和VPM垂直定位技術，測試傳感器采用自動量程設計，分辨率高達達0.0001克。力標推拉力測試機（多功能剪切力測試儀）是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態測試儀器，是填補國內的微電子和電子制造領域的重要儀器設備。該設備測試迅速、準確
焊接拉力測試儀LED芯片推拉力測試機
型號：LB：8500L?產品優勢：1.采用測試工位自動模式，在軟件選擇測試工位后，系統自動到達對應工作位。2.三個工作傳感器，采用獨立采集系統，保證測試精度。3.每項傳感器采用獨立防碰撞及過力保護系統。4.每項測試工位采用獨立安全限位及限速功能。5.人性化的操作界面，人員操作方便。6.高精度傳感系統
電路芯片拉拔力測試儀概述
電路芯片拉拔力測試儀主要用于測試芯片的拉拔力測試，先在CCD相機上觀察先接觸到膠水，然后再拉開，后顯示一個峰值，一般會在5克左右的力為測試合格。電路芯片拉拔力測試儀MX-0580(單臂）設備概述：主要適用于試驗負荷低于5000N的各種金屬、非金屬及復合材料進行力學性能測試和分析研究。具有應力、應變、
器官芯片走向研發測試“舞臺中心”
輪狀病毒感染會導致幼兒嚴重腹瀉、嘔吐、脫水甚至死亡。在一些國家，高達98%的接種輪狀病毒疫苗的兒童會獲得終身免疫力。但在另一些國家，只有大約三分之一接種疫苗的兒童會產生免疫力。這一驚人的偏差，是由于研發時樣本代表性不足造成的。美國弗吉尼亞大學醫學院兒科胃腸病學家肖恩·摩爾希望“器官芯片”能幫助他解決
集成芯片測試儀器使用建議
集成芯片測試儀器是使用在不同的工藝中，在不同的工況要求下，集成芯片測試儀器在使用的時候需要注意一些使用知識，那么，集成芯片測試儀器在使用需要注意哪些呢？ 芯片上的溫度變化會顯著地影響芯片功耗、速度和可靠性。特別是泄漏功率與溫度呈指數關系，如果不能正確地處理，將導致熱失控。而像壓降和時鐘偏移
器官芯片走向研發測試“舞臺中心”
輪狀病毒感染會導致幼兒嚴重腹瀉、嘔吐、脫水甚至死亡。在一些國家，高達98%的接種輪狀病毒疫苗的兒童會獲得終身免疫力。但在另一些國家，只有大約三分之一接種疫苗的兒童會產生免疫力。這一驚人的偏差，是由于研發時樣本代表性不足造成的。美國弗吉尼亞大學醫學院兒科胃腸病學家肖恩·摩爾希望“器官芯片”能幫助他解決
高速存儲器測試系統ADVANTEST－T5833ES－TU1共享
儀器名稱：高速存儲器測試系統-ADVANTEST T5833ES TU1儀器編號：18508803產地：392生產廠家：Advantest型號：T5833ES出廠日期：購置日期：26-12月-18所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>高精尖放置地點：荷清大廈高精尖一層實驗室固定電話：固定手機：150
芯片反向設計流程（一）
什么是芯片反向設計？反向設計其實就是芯片反向設計，它是通過對芯片內部電路的提取與分析、整理，實現對芯片技術原理、設計思路、工藝制造、結構機制等方面的深入洞悉，可用來驗證設計框架或者分析信息流在技術上的問題，也可以助力新的芯片設計或者產品設計方案。芯片反向工程的意義：現代IC產業的市場競爭十分
自動推拉力測試儀晶片芯片推拉力測試機
型號：LB-8600產品介紹LB-8600多功能推拉力測試機廣泛用于LED封裝測試，IC半導體封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，光電子元器件封裝測試，汽車領域，航天航空領域，軍工產品測試，研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。設備功能介紹：1.設備整體結構采用五軸定位控制系統，X
新型微流控芯片可提高單細胞轉錄組測序效率
近日，中國科學院深圳先進技術研究院醫工所微納系統與仿生醫學研究中心研究員陳艷和南加州大學教授鐘江帆合作，在針對稀有細胞樣本的單細胞測序技術方面取得新進展。相關研究成果以Improving single-cell tranome sequencing efficiency with a microfl
《組委會》「通知」芯片展2025深圳國際芯片設計展
2025深圳半導體展暨中國電子信息博覽會（CITE）即將于4月9日至11日在深圳會展中心盛大開幕。本屆博覽會以“深化交流與合作，推動產業創新發展”為主題，通過九大展館的全面展示，為全球半導體行業帶來一場交流與合作的盛宴。本屆展會將重點打造半導體產業鏈館和新型顯示及應用館，全面展示IC設計、半導體材料
基于FPGA的微流控芯片電泳控制系統設計
1 概 述 微型全分析系統的概念由Manz于20世紀90年代初提出，是集進樣、樣品處理、分離檢測為一體的微型檢測和分析系統。微流控芯片是其主要部件，采用微電子機械系統技術集成了微管道、微電極等多種功能元器件。微流控芯片的電泳技術是指以電場方式驅動樣品在芯片的微管道中流動，然后再通過光電倍增管(P