透射電子顯微鏡的特點
1、由于樣品制備技術的限制，對大多數生物樣品來說，一般只能達到2nm的分辨率。 2、電鏡圖像的分辨能力不僅取決于電鏡本身的分辨率，而且取決于樣品結構的反差。 3、電鏡所用的光源是電子波，波長在非可見光范圍內無顏色反應，所形成的圖像是黑白圖像，要求圖像必須具有一定的反差。 4、生物體組織和細胞成分主要有C\H\O\N等輕元素組成，它們的原子序數較低，電子散射能力弱，相互之間的差別又很小，電鏡下的圖像反差一般較低。 5、由于電子束的穿透能力較弱，樣品必須制成超薄切片。 6、觀察面小，載網直接能夠為3mm,超薄切片范圍為0.3-0.8mm. 7、電子束的強烈照射，易損傷樣品，發生變形、升華等，甚至被擊穿破裂，可能使觀察結構產生假象。 8、觀察時電鏡鏡筒必須保持真空，為了保證樣品在真空下不損傷，對樣品要求應無水分。因此，不能觀察活體的生物樣本。 9、生物制樣復雜，在步驟繁多的制樣過程中......閱讀全文
透射電子顯微鏡的特點
1、由于樣品制備技術的限制，對大多數生物樣品來說，一般只能達到2nm的分辨率。 2、電鏡圖像的分辨能力不僅取決于電鏡本身的分辨率，而且取決于樣品結構的反差。 3、電鏡所用的光源是電子波，波長在非可見光范圍內無顏色反應，所形成的圖像是黑白圖像，要求圖像必須具有一定的反差。 4、生
透射電子顯微鏡的應用特點
透射電子顯微鏡在材料科學 、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液
透射電子顯微鏡的功能特點
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。
掃描透射電子顯微鏡的技術特點
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描，通過電子穿透樣品成像。STEM技術要求較高，要非常高的真空度，并且電子學系統比TEM和SEM都要復雜。
透射電子顯微鏡的功能和技術特點
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
透射電子顯微鏡的結構與功能特點
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
透射電子顯微鏡的特點及功能介紹
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備。1933年，德國科學家盧斯卡（Ruska）和克諾爾（Knoll）研制出了世界上第一臺透射電鏡（見圖1），并在1939年由西門子公司以這臺電鏡為樣機，
透射電子顯微鏡
1、基本原理 在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，
透射電子顯微鏡
因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電子需
透射電子顯微鏡
1、基本原理在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨
透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡，簡稱透射電鏡，英文名為Transmission Electron Microscope，縮寫為TEM，是一種利用高速運動的電子束作為光源，穿透固體樣品，再經過電磁透鏡成像的顯微鏡。透射電鏡由電子光學系統、觀察記錄系統、真空和冷卻系統以及電源系統等組成。電子光學系統又可分為照明系統和成
Hitachi透射電子顯微鏡具有哪些先進功能及特點
Hitachi透射電子顯微鏡根據不同信息產生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。Hitachi透射電子顯微鏡對于固體材
Hitachi透射電子顯微鏡具有哪些先進功能及特點
Hitachi透射電子顯微鏡根據不同信息產生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。Hitachi透射電子顯微鏡對于固體材
透射電子顯微鏡的由來
因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電
透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡的結構 透射電子顯微鏡結構包括兩大部分：主體部分為照明系統、成像系統和觀察照相室;輔助部分為真空系統和電氣系統。 1、照明系統 該系統分成兩部分：電子槍和會聚鏡。電子槍由燈絲(陰極)、柵級和陽極組成。加熱燈絲發射電子束。在陽極加電壓，電子加速。陽極與陰極間的電位差為總的加速電壓
透射電子顯微鏡的應用
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡由以下幾大部分組成：照明系統，成像光學系統；記錄系統；真空系統；電氣系統。成像光學系統，又稱鏡筒，是透射電鏡的主體。（詳見右圖） 照明系統主要由電子槍和聚光鏡組成。電子槍是發射電子的照明光源。聚光鏡是把電子槍發射出來的電子會聚而成的交叉點進一步會聚后照射到樣品上。照明系統的作用就
透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系
透射電子顯微鏡的優點
透射電子顯微鏡的優點掃描透射電鏡是在20世紀50年代開發的。?而不是光，透射電鏡使用的電子聚焦光束，它通過一個樣本，以形成圖像發送。?通過光學顯微鏡透射電子顯微鏡的優點是它能夠產生更大的放大倍率，光學鏡不能顯示詳細信息。?在顯微鏡的工作原理透射電子顯微鏡光學顯微鏡類似工作，而不是光或光子，他們使用的
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是目前使用最普遍的一種電鏡，占使用電鏡的80%，其分辨率、放大倍數及各項性能都比其他類型電鏡高。透射電鏡是用電子束照射標本，用電子透鏡收集穿透標本的電子并放大成像，用以顯示物體超微結構的裝置。透射電鏡的分辨
透射電子顯微鏡的簡介
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
透射電子顯微鏡的應用
透射電鏡具有分辨率高、可與其他技術聯用的優點，在材料學、物理、化學和生物學等領域有著廣泛地應用。 材料的微觀結構對材料的力學、光學、電學等物理化學性質起著決定性作用。透射電鏡作為材料表征的重要手段，不僅可以用衍射模式來研究晶體的結構，還可以在成像模式下得到實空間的高分辨像，即對材料中的原子進行
透射光柵的功能特點
透射光柵，transmission grating衍射光柵的一種。在透明玻璃上刻制很多條相互平行、等距、等寬的狹縫，利用多縫衍射原理，使復合光發生色散的光學元件。
透射光柵的功能特點
透射光柵，transmission grating衍射光柵的一種。在透明玻璃上刻制很多條相互平行、等距、等寬的狹縫，利用多縫衍射原理，使復合光發生色散的光學元件。
透射電子顯微鏡概述
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的
透射電子顯微鏡簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真
透射電子顯微鏡背景
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如
透射電子顯微鏡功能
早期的 透射電子顯微鏡功能主要是觀察樣品形貌，后來發展到可以通過 電子衍射 原位分析樣品的 晶體結構。具有能將形貌和晶體結構原位觀察的兩個功能是其它結構分析儀器（如光鏡和X射線衍射儀）所不具備的。 透射電子顯微鏡增加附件后，其功能可以從原來的樣品內部組織形貌觀察（TEM）、原位的電子衍射分析（
透射電子顯微鏡結構
透射電子顯微鏡結構 透射電子顯微鏡的結構透射電子顯微鏡（TEM）是觀察和分析材料的形貌、組織和結構的有效工具。TEM用聚焦電子束作照明源，使用對電子束透明的薄膜試樣，以透過試樣的透射電子束或衍射電子束所形成的圖像來分析試樣內部的顯微組織結構。 圖1（a）（b）是兩種典型的透射電鏡的實物照片。透射