紅外光譜儀對樣品的要求

紅外光譜儀對樣品的要求

為了保護儀器和保證樣品紅外譜圖的質量，送本儀器分析的樣品，必須做到：(1)樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度;(2)樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾;(3)易潮解的樣品，請用戶自備干燥器放置;(4)對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝并蓋緊，

紅外光譜儀對樣品的要求

紅外光譜法特征性強、測定快速、不破壞試樣、試樣用量少、操作簡便、能分析各種狀態的試樣。?紅外光譜儀對樣品的要求：①試樣純度應大于98％，或者符合商業規格? 這樣才便于與純化合物的標準光譜或商業光譜進行對照? 多組份試樣應預先用分餾、萃取、重結晶或色譜法進行分離提純，否則各組份光譜互相重疊，難予解析②

紅外光譜儀對樣品有哪些要求

紅外檢測有機物的特征官能團紅外光譜可以研究分子的結構和化學鍵,如力常數的測定和分子對稱性等,利用紅外光譜方法可測定分子的鍵長和鍵角,并由此推測分子的立體構型.根據所得的力常數可推知化學鍵的強弱,由簡正頻率計算熱力學函數等.分子中的某些基團或化學鍵在不同化合物中所對應的譜帶波數基本上是固定的或只在小波

紅外光譜儀對樣品有哪些要求

紅外檢測有機物的特征官能團紅外光譜可以研究分子的結構和化學鍵,如力常數的測定和分子對稱性等,利用紅外光譜方法可測定分子的鍵長和鍵角,并由此推測分子的立體構型.根據所得的力常數可推知化學鍵的強弱,由簡正頻率計算熱力學函數等.分子中的某些基團或化學鍵在不同化合物中所對應的譜帶波數基本上是固定的或只在小波

使用紅外光譜儀時的樣品要求

　　 為了保護儀器和保證樣品紅外譜圖的質量，送本儀器分析的樣品，必須做到：　　(1)樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；　　(2)樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；　　(3)易潮解的樣品，請用戶自備干燥器放置；　　(4)對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或

傅里葉紅外光譜儀樣品要求

　　1，FTIR樣品要求　　粉末：樣品干燥不含水，大于10mg，200目以上，可用于直接壓片的粒度；　　溶液：不可以與溴化鉀反應，2mL；　　薄膜：樣品干燥不含水，大于0.5cm*0.5cm；　　塊體：樣品干燥不含水，大于0.5cm*0.5cm。　　2，FTIR備注信息　　（1）預先純化，以保證有足

測定紅外光譜時對樣品有什么要求

為了保護儀器和保證樣品紅外譜圖的質量，送本儀器分析的樣品，必須做到：（1）樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；（2）樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；（3）易潮解的樣品，應放置在干燥器內；（4）對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝并蓋緊，同時

測定紅外光譜時對樣品有什么要求

為了保護儀器和保證樣品紅外譜圖的質量，送本儀器分析的樣品，必須做到：（1）樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；（2）樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；（3）易潮解的樣品，應放置在干燥器內；（4）對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝并蓋緊，同時

測定紅外光譜時對樣品有什么要求

（1）樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；（2）樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；（3）易潮解的樣品，應放置在干燥器內；（4）對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝并蓋緊，同時必須注明；（5）對于有毒性和腐蝕性的樣品，用戶必須用密封容器裝好。送

光電直讀光譜儀對被檢測樣品的要求

1、樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質，也不能用手摸；　　2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷；　　3、樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙；　　制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態試樣需要先切割）。要求磨制后的樣品表面平整潔凈

光電直讀光譜儀對被檢測樣品的要求

　1、樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質，也不能用手摸；　　2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷；　　3、樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙；　　制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態試樣需要先切割）。要求磨制后的樣品表面平整潔

原子熒光光譜儀對樣品的要求

(1)樣品分析一般要求原子熒光光譜儀分析的對象是以離子態存在的砷(As)、硒(Se)、鍺(Ge)、碲(Te)等及汞(Hg)原子，樣品必須是水溶液或能溶于酸。(2)固體樣品①無機固體樣品，樣品經簡單溶解后保持適當酸度：檢測砷(As)、硒(Se)、碲(Te)、汞(Hg)，介質為鹽酸(5%，v/v)；檢測

光電直讀光譜儀對被檢測樣品的要求

光電直讀光譜儀對被檢測樣品的要求　　1、樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質，也不能用手摸；　　2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷；　　3、樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙；　　制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態試樣需要先

紫外可見吸收光譜儀對樣品的要求

(1)樣品溶液的濃度必須適當，且必須清澈透明，不能有氣泡或懸浮物質存在；(2)固體樣品量>0.2g，液體樣品量>2mL；

TEM對樣品的要求

對樣品的要求1. 樣品一般應為厚度小于100nm的固體。2. 感興趣的區域與其它區域有反差。3. 樣品在高真空中能保持穩定。4. 不含有水分或其它易揮發物，含有水分或其他易揮發物的試樣應先烘干除去。5. 對磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響。TEM樣品常放置在直徑為3mm的200目樣

SEM對樣品的要求

對樣品的要求1、不會被電子束分解2、在電子束掃描下熱穩定性要好3、能提供導電和導熱通道4、大小與厚度要適于樣品臺的安裝5、觀察面應該清潔，無污染物6、進行微區成分分析的表面應平整7、磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響

原子熒光光譜儀對送檢樣品的要求

　　(1) 、樣品分析一般要求：　　原子熒光光譜儀分析的對象是以離子態存在的砷(As)、硒(Se)、鍺(Ge)、碲(Te)等及汞(Hg)原子，樣品必須是水溶液或能溶于酸。　　(2) 、固體樣品：　　① 無機固體樣品：樣品經簡單溶解后保持適當酸度。　　檢測砷（As）、硒（Se）、碲（Te）、汞（Hg）

光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品的要求

　　光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品有什么要求?應該如何制樣? 　　為了獲得準確的分析結果，要求樣品： 　　1、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 　　2、樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙； 　　3、樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質，也不能用手摸； 　　制樣要求：一般情況下，

使用傅立葉變換紅外光譜儀對樣品處理的介紹

　　氣體樣品　　 對氣體樣品，可將它直接充入已抽成真空的樣品池內，常用樣品池長度約在10cm 以上，對衡量分析來說，采用多次反射使光程折疊，從而使光束通過樣品池全長的次數達數十次。　　液體和溶液樣品　　 純液體樣品可直接滴入兩窗片之間形成薄膜后形成測定，可以消除由于加入溶劑而引起的干擾，但會呈現強烈

AFM測試對樣品的要求

等離子體原子發射光譜儀對樣品的要求

(1)對送檢樣品(檢測條件)的要求：①請告知樣品來源、種類、屬性(如，礦石、合金、硅酸鹽、特種固熔體、高聚物等)。盡可能列出主要成份、雜質成份及其(估計)含量；待檢元素中最低(估計)含量是多少?對于溶液，請寫明介質成份(溶劑、酸堿的種類及其(估計)含量)、含氟( F-)與否，因為氟(F-)將嚴重腐蝕

紅外光譜儀的樣品準備

　　為了保護儀器和保證樣品紅外譜圖的質量，送本儀器分析的樣品，必須做到：　　（1）樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；　　（2）樣品須預先除水干燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；　　（3）易潮解的樣品，請用戶自備干燥器放置；　　（4）對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞

有機質譜儀對樣品的要求

適合分析相對分子質量為50~2000 μ的液體、固體有機化合物樣品，試樣應盡可能為純凈的單一組分。

掃描電鏡對樣品的要求

掃描電鏡生物樣品制備技術大多數生物樣品都含有水分，而且比較柔軟，因此，在進行掃描電鏡觀察前，要對樣品作相應的處理。掃描電鏡樣品制備的主要要求是：盡可能

xrf使用時對樣品的要求

被測面盡量平整，減少光線散射。被測樣品要做到盡量的均勻單一均質。具體的還要看你要測試的是哪個方向。就是測rohs呢，還是分析元素含量呢，分析含量的話要求更高點，測rohs的話相應的要求低一些

DMA夾具對樣品的尺寸要求

樣品寬、厚對測試結果的影響：一般來說樣品寬度影響不大，不過每個夾具有固定的尺寸，樣品的寬度只要小于夾具的要求尺寸就可以，對于彎曲模量的夾具如單雙懸和三點彎則應適當加厚。DMA動態熱機械分析適用標準ASTM E 1640-99；ASTM D 4473；ASTM D 5023；ASTM D 5024；A

X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求

材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一

X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求

材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么?如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一

X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求

材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一

材料成分分析對樣品的要求

樣品的特殊要求：產品通過成分分析是否能獲得精準的定性定量結果，對樣品的要求較為嚴格，通常需要考慮如下幾個要點：1、樣品是否含有天然未知成分？例如中藥藥膏、海底沉積物、外星隕石等，這些樣品中含有天然的未經驗證的成分，這樣的樣品想通過成分分析獲得精準的定性定量結果，難度非常大。2、樣品量是否足夠？一般成