澳大利亞要無償轉讓高端二次離子質譜技術中國卻犯難
82歲的劉敦一最近有了個新頭銜——敦儀(北京)科技發展有限公司(以下簡稱“敦儀科技”)董事長兼總經理。此前,他擔任國家科技基礎條件平臺北京離子探針中心主任多年,建設了以兩臺進口高靈敏度、高分辨率二次離子探針質譜(SHRIMP)為主體的大型科學儀器共享平臺,極大推動了我國地球科學的發展。北京離子探針中心目前在運行的SHRIMP儀器這一次,從科研院所到公司,從研究人員到總經理,劉敦一在耄耋之年的轉型是為了研發制造出我國自主知識產權的二次離子探針質譜儀。讓劉敦一欣喜的是,這一項目在圈內的被重視程度超出預期。近日召開的中國制造高分辨率二次離子質譜發布會暨首臺國產HR—SIMS研制項目啟動會,竟吸引了11位兩院院士,其中包括90歲的光學和儀器專家、中國工程院院士金國藩、89歲的地質學家、中國科學院院士李廷棟。到會的還有地球科學、核科學、生命科學等領域的著名專家20余名。他們都在關注,這一從澳大利亞落地到中國的大型儀器制造項目,能否成為推動......閱讀全文
二次離子質譜的原理組成和結構
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀,即離子探針(Ion Probe Analyzer,IPA),又稱二次離子質譜(Secondary Ion Mass Spectrum,SIMS),是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加
華人質譜研討會分會:古都西安綻放儀器研發新篇章
2024年5月11日-13日,第八屆華人質譜研討會暨2024年無機和同位素質譜學術會議在古都西安盛大召開(點擊了解)。會議次日的儀器研發分會場,核工業北京地質研究院郭冬發正高級工程師、中國地質大學(武漢)劉勇勝教授、中科科儀股份有限公司蘇子慕工程師、中國地質科學院地質研究所龍濤研究員、中國原子能
一種新型二次離子質譜的一次離子源及其離子光學系統
1 引 言? 二次離子質譜(Secondary ion mass spectrometry, SIMS) 是目前靈敏度最高的表面化學分析的手段之一。它具有10-9量級的靈敏度, 能分析幾乎所有的導體、半導體和絕緣體材料, 甚至還可以檢測不易揮發的有機分子等[1~3]。通常,?二次離子質譜工作在
嫦娥五號月球樣品研究取得重大進展!
近期,由中國地質調查局中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心劉敦一研究員,和地質所海外高級訪問學者澳大利亞科廷大學Alexander Nemchin教授領銜的國際研究團隊,對嫦娥五號月球玄武巖開展了年代學、元素、同位素分析,證明月球在19.6億年前仍存在巖漿活動,為完善月球演化歷史提供了關鍵科
月球樣品研究報告:月球19.6億年前仍存在巖漿活動!
記者8日從國家航天局獲悉,近期由中國地質調查局中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心劉敦一研究員和地質所海外高級訪問學者澳大利亞科廷大學亞歷山大·涅姆欽(Alexander Nemchin)教授領銜的國際研究團隊在嫦娥五號月球樣品研究方面取得進展,團隊對嫦娥五號月球玄武巖開展了年代學、元素、同
TOFSIMS(飛行時間二次離子質譜儀)的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊,一次離子可能受到樣品表面的背散射(概率很小),也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度,在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子,這些原子中有一部分向表面運動,并把能量傳遞給表面離子使之發射,這種過程成為粒子
二次離子質譜原理是什么?應用哪些方面?
二次離子質譜( Secondary Ion Mass Spectrometry ,SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 在傳統的SIMS實驗中,高能一次離子束
第六屆中國二次離子質譜會
會議時間:2016 年10 月 8-11 日 會議地點:大連,中國科學院大連化學物理研究所 第六屆中國二次離子質譜會議將于2016年10月8-11日在中國科學院大連化學物理研究所(地址詳見附件1)舉行。會議將為我國二次離子質譜 界的學術研討、技術交流
普敦:為解決臨床質譜最后一公里難題而努力
分析測試百科網訊 2021年6月2日-4日,由復旦大學附屬中山醫院檢驗科、美國臨床質譜學會(MSACL)、北美華人臨床化學協會(NACCCA)、中國醫藥教育協會檢驗醫學專委會、上海市生物醫學工程學會檢驗醫學專委會主辦、上海市醫學會檢驗醫學分會質譜學組協辦的國家級I類繼續教育學習班——“液相色譜-
質譜干擾離子
質譜儀種類很多,不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求,同時,所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要,高分辨質譜儀可給出化合物的組成式,對于未知物定性至關重要。因此,在進行質譜分析前,要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前,有機質譜儀主要有兩大
質譜干擾離子
質譜儀種類很多,不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求,同時,所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要,高分辨質譜儀可給出化合物的組成式,對于未知物定性至關重要。因此,在進行質譜分析前,要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前,
3D成像二次離子質譜技術的相關介紹
質譜成像技術能將基質輔助激光解吸電離質譜的離子掃描與圖像重建技術結合,直接分析生物組織切片,產生任意質荷比(m/z)化合物的二維或三維分布圖。其中三維成像圖是由獲得的質譜數據,通過質譜數據分析處理軟件自動標峰,并生成該切片的全部峰值列表文件,然后成像軟件讀取峰值列表文件,給出每個質荷比在全部質譜
關于二次離子質譜儀操作模式的介紹
SIMS大致可以分為“動態二次離子質譜”(D-SIMS)"和“靜態二次離子質譜“(S-SIMS)兩大類。雖然工作原理上它們并無本質差別,但是兩種模式的應用特點卻有所不同。一次離子束流密度大小是劃分兩種模式的主要標準。一般在S-SIMS模式下,一次離子束流被控制在1013離子/cm2,常用飛行時間
不忘其志,先生千古——沉痛悼念查良鎮教授
我國二次離子質譜(SIMS)的開拓者,國際著名的SIMS專家,清華大學教授,查良鎮先生因病醫治無效,于2022年12月24日2點18分在北京逝世,享年八十五歲。查良鎮教授的逝世,不僅是中國SIMS界的損失,也是世界SIMS界的損失!查良鎮教授是清華大學“千字號”畢業生,留校任教后成為清華大學表面物理
二次離子譜儀的簡介
中文名稱二次離子譜儀英文名稱secondary ion spectrometer定 義適用于元素的表面分布、深度分布的微區分析的能譜儀。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件(三級學科)
TOFSIMS(飛行時間二次離子質譜儀)的主要用途
1. 摻雜劑與雜質的深度剖析2. 薄膜的成份及雜質測定 (金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族)3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整體分析,包含B, C, O,以及N5. 工藝工具(離子植入)的高精度分析
金屬基質增強飛行時間二次離子質譜用于單細胞脂質分析
1引 言? 單個細胞在結構、組成及代謝等方面存在差異,這種差異帶來的影響在組織、器官等的功能上均有所體現。針對多個細胞的常規分析方法測得的結果通常無法保留這些個體差異信息,難以準確評估及預測細胞的生理學行為,因此,單細胞分析引起越來越多的關注[1]。單細胞分析的一個重要內容是單細胞脂質分析。脂
第六屆中國二次離子質譜會第二輪通知
會議時間:2016 年10 月 8-11 日 會議地點:大連,中國科學院大連化學物理研究所 第六屆中國二次離子質譜會議將于2016年10月8-11日在中國科學院大連化學物理研究所(地址詳見附件1)舉行。會議將為我國二次離子質譜界的學術研討、技術交流與合作提供
聚焦二次離子質譜技術的發展,港科大首發《Nature-Reviews》
5月9日,應《自然綜述》系列期刊《Nature Reviews Methods Primers(自然綜述-方法導論)》邀請,香港科技大學(廣州)材料表征與制備中央實驗室主任翁祿濤教授與二次離子質譜領域的多個國家的知名學者共同撰寫了題為“Secondary ion mass spectrometr
劉虎威教授:實時直接分析質譜離子化新技術及其應用
北京大學化學與分子工程學院 劉虎威教授 2014年4月26日,首屆全國質譜分析學術研討會在北京西郊賓館盛大開幕。來自北京大學化學與分子工程學院的劉虎威教授為大家帶來題為《實時直接分析質譜離子化新技術及其應用》的報告。劉教授課題組近年來針對樣品預處理、分離、檢測技術、數據處理以及應用方
質譜圖的質譜中主要離子峰
從有機化合物的質譜圖中可以看到許多離子峰,這些峰的m/z和相對強度取決于分子結構,并與儀器類型,實驗條件有關。質譜中主要的離子峰有分子離子峰、碎片離子峰、同位素離子峰、重排離子峰及亞穩離子峰等。正是這些離子峰給出了豐富的質譜信息,為質譜分析法提供依據。分子受電子束轟擊后失去一個電子而生成的離子M+稱
離子阱質譜簡介
離子阱質譜(ITMS)是利用高電場使質譜進樣端的毛細管柱流出的液滴帶電,在氮氣氣流的作用下,液滴溶劑蒸發,表面積縮小,表面電荷密度不斷增加,直至產生的庫侖力與液滴表面張力達到雷利極限,液滴爆裂為帶電的子液滴,這一過程不斷重復使最終的液滴非常細小呈噴霧狀,這時液滴表面的電場非常強大,使分析物離子化
二次離子質譜儀簡介
二次離子質譜( Secondary Ion Mass Spectrometry ,SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。[1] 在傳統的SIMS實驗中,高能一次
北京離子探針中心:爭創世界一流
堅持科學發展 爭創世界一流 地球科學的探索與實踐,為世界經濟的蓬勃發展和人類的文明與進步做出了卓越貢獻。北京離子探針中心就是其中的杰出代表。 北京離子探針中心(以下簡稱“中心”)成立于2001年12月18日,是由科技部、國土資源部和中科院共同出資,以共建共享方式建立,按出資比例分配機時的國家大型
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別
離子阱 ion trap軌道阱 obitrap離子阱是利用射頻電場實現對離子的束縛和彈出從而實現分離,電場是變化的.軌道阱是利用靜電場實現離子分離,電場不變.
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別離子阱 ion trap軌道阱 obitrap離子阱是利用射頻電場實現對離子的束縛和彈出從而實現分離,電場是變化的.軌道阱是利用靜電場實現離子分離,電場不變.
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別
離子阱 ion trap軌道阱 obitrap離子阱是利用射頻電場實現對離子的束縛和彈出從而實現分離,電場是變化的。軌道阱是利用靜電場實現離子分離,電場不變。
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別
離子阱質譜與軌道離子阱質譜有什么區別離子阱 ion trap軌道阱 obitrap離子阱是利用射頻電場實現對離子的束縛和彈出從而實現分離,電場是變化的.軌道阱是利用靜電場實現離子分離,電場不變.
杭州質譜大會系列專訪——劉虎威教授
——劉虎威教授:坐熱“冷板凳”,做中國人自己的質譜 導讀:2020-2023年中國質譜學術大會將于2023年6月9-13日在杭州舉辦,本次大會是中國質譜界的一次盛會,旨在促進學界團結進步、和諧發展、共贏未來,提高學術交流水平,推動質譜技術在各大科技領域的廣泛應用。大會由中國物理學會質譜分會聯合