3D成像二次離子質譜技術的相關介紹

3D成像二次離子質譜技術的相關介紹

　　質譜成像技術能將基質輔助激光解吸電離質譜的離子掃描與圖像重建技術結合，直接分析生物組織切片，產生任意質荷比(m/z)化合物的二維或三維分布圖。其中三維成像圖是由獲得的質譜數據，通過質譜數據分析處理軟件自動標峰，并生成該切片的全部峰值列表文件，然后成像軟件讀取峰值列表文件，給出每個質荷比在全部質譜

3D成像——二次離子質譜技術

質譜成像技術能將基質輔助激光解吸電離質譜的離子掃描與圖像重建技術結合，直接分析生物組織切片，產生任意質荷比(m/z)化合物的二維或三維分布圖。其中三維成像圖是由獲得的質譜數據，通過質譜數據分析處理軟件自動標峰，并生成該切片的全部峰值列表文件，然后成像軟件讀取峰值列表文件，給出每個質荷比在全部質譜圖中

二次離子質譜技術

海洋有機地球化學檢測方法二次離子質譜技術簡述 摘要：海洋有機地球化學是通過研究與還原性碳相關的物質來揭示海洋生態系的 結構、功能與演化的一門科學。由于其中的有機組分通常以痕量、復雜的混合物 形式存在，且是不同年齡、不同來源、不同反應歷史生源物質的集成產物，所以 總體分析困難較大。目前主要是從整體水平

二次離子質譜技術的分析和應用

　　二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等

二次離子質譜概述

　　二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。　　用一次離

二次離子質譜的結構

??? 近年來，二次離子質譜這一前沿的分析技術越來越多地被用在了科學研究當中，應用范圍較為廣泛。然而，依然有很多小白對二次離子質譜的基本結構不太了解。那么二次離子質譜的組成結構是怎樣的呢？都有哪些功能和特點？今天小編就來簡單盤點一下。?　　二次離子質譜主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次

二次離子質譜的原理

??? 二次離子質譜是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子，通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。它利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表

二次離子質譜的特點

　　1.獲得樣品最表層1-3個原子信息深度信息；　　2.可以檢測同位素，用于同位素分析 ；　　3.達到ppm~ ppb級的探測極限。　　4. 可以并行探測所有元素和化合物，離子傳輸率可以達到100%。　　5.采用高效的電子中和槍，可以精確的分析絕緣材料。　　6. 具有很小的信息深度（小于1nm）；可

學者綜述二次離子質譜技術發展

近日，應《自然-綜述-方法導論》（Nature Reviews Methods Primers）的邀請，香港科技大學（廣州）教授翁祿濤與合作者共同撰寫了題為《二次離子質譜》（Secondary ion mass spectrometry）的綜述論文，同期還配發了導論總覽（PrimeView）對該論文

二次離子質譜儀的質譜原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子

有關MALDI質譜分子成像技術的介紹

　　MALDI 質譜分子成像是在專門的質譜成像軟件控制下，使用一臺通過測定質荷比來分析生物分子的標準分子量的質譜儀來完成的。被用來研究的組織首先經過冰凍切片來獲得極薄的組織片，接著用基質封閉組織切片并將切片置入質譜儀的靶上。通過計算機屏幕觀察樣品，利用MALDI 系統的質譜成像軟件，選擇擬成像部分，

離子阱質譜相關簡介

　　離子阱質譜（ITMS）是利用高電場使質譜進樣端的毛細管柱流出的液滴帶電，在氮氣氣流的作用下，液滴溶劑蒸發，表面積縮小，表面電荷密度不斷增加，直至產生的庫侖力與液滴表面張力達到雷利極限，液滴爆裂為帶電的子液滴，這一過程不斷重復使最終的液滴非常細小呈噴霧狀，這時液滴表面的電場非常強大，使分析物離子化

飛行時間二次離子質譜共享

儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6

二次離子質譜的原理組成和結構

二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加

聚焦二次離子質譜技術的發展，港科大首發《Nature－Reviews》

　　5月9日，應《自然綜述》系列期刊《Nature Reviews Methods Primers（自然綜述-方法導論）》邀請，香港科技大學（廣州）材料表征與制備中央實驗室主任翁祿濤教授與二次離子質譜領域的多個國家的知名學者共同撰寫了題為“Secondary ion mass spectrometr

二次離子質譜可完成癌細胞分析

哥德堡大學（University of Gothenburg）進一步開發了二次離子質譜的應用，以幫助研究人員更好地檢測身體中的有害細胞。“該方法可以變得重要，例如對于乳腺癌組織的未來分析。”博士生Tina Angerer說。該方法可以被描述為首先通過在其處噴射氣體射彈從一片組織釋放分子和原子，然后使

二次離子質譜可完成癌細胞分析

　　分析測試百科網訊 哥德堡大學（University of Gothenburg）進一步開發了二次離子質譜的應用，以幫助研究人員更好地檢測身體中的有害細胞。　　“該方法可以變得重要，例如對于乳腺癌組織的未來分析。”博士生Tina Angerer說。該方法可以被描述為首先通過在其處噴射氣體射彈從一片

二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用

二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。

二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用

二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子

直播預告|3位專家分享二次離子質譜技術前沿研究

直播時間：2024年6月24日（周一）18:00——20:00直播平臺：科學網APPhttps://weibo.com/l/wblive/p/show/1022:2321325046574324515136（科學網微博直播間鏈接）科學網微博科學網視頻號【直播簡介】2024 年 06 月 24 日，F

液相色譜質譜聯用儀的離子阱相關介紹

　　離子阱中分辨率、質量范圍和掃描速度的關系　　離子阱的分辨率取決于掃描范圍和掃描速度，當掃描速度為每秒幾百個質量單位時，分辨率將小于四極桿質譜。但是如果以低掃描速度對很小的質量范圍進行掃描時，分辨率可以增加。比如掃描范圍為10Da時，分辨率可以達到5000，這個分辨率足以測定一個小分子肽的多電荷峰

SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次離子質譜圖文

1.儀器介紹二次離子質譜（SIMS）是一種用于通過用聚焦的一次離子束濺射樣品表面并收集和分析噴射的二次離子來分析固體表面和薄膜的組成的技術。SIMS是最靈敏的表面分析技術，元素檢測限為百萬分之幾到十億分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument

硅中氧、碳的二次離子質譜(SIMS)分析

硅中氧、碳的二次離子質譜（SIMS）分析何友琴馬農農王東雪（電子材料研究所??天津?300192）摘?要?本文采用相對靈敏度因子法，對硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法進行研究。通過對樣品進行預濺射的方法，氧、碳的的檢測限分別可達到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。關

澳大利亞要無償轉讓高端二次離子質譜技術－中國卻犯難

82歲的劉敦一最近有了個新頭銜——敦儀（北京）科技發展有限公司（以下簡稱“敦儀科技”）董事長兼總經理。此前，他擔任國家科技基礎條件平臺北京離子探針中心主任多年，建設了以兩臺進口高靈敏度、高分辨率二次離子探針質譜（SHRIMP）為主體的大型科學儀器共享平臺，極大推動了我國地球科學的發展。北京離子探針中

二次離子質譜原理是什么？應用哪些方面？

　　二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。　　在傳統的SIMS實驗中，高能一次離子束

飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究

一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類

二次離子譜儀的簡介

中文名稱二次離子譜儀英文名稱secondary ion spectrometer定　　義適用于元素的表面分布、深度分布的微區分析的能譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）

2020－CMSS質譜網絡研討會——離子化及成像技術專場日程

納米二次離子質譜技術在－微生物生態學研究中的應用

納米二次離子質譜技術(NanoSIMS)在 微生物生態學研究中的應用氮(N)、碳(C)、硫(S)等生命元素的生物地球化學循環過程主要由微生物所驅動。 耦合分析自然環境中 微生物遺傳多樣性與其代謝多樣性是當今微生物生態學研究的難點和熱點。 自然環境中的微生物多樣性極 為豐富,每噸土壤中的微生物類

探索質譜前沿極限：顆粒質譜與成像

　　分析測試百科網訊 質譜技術的快速發展和應用有目共睹。學物理出身、從事科學研究的質譜學者會做出什么樣的選擇？數年前在北京質譜年會上，第一次聽聶宗秀的報告時就印象深刻，用離子阱質譜測定數百兆分子量的大顆粒的工作讓人耳目一新。如果說探索高質量極限的工作還不夠引人注意，那么用MALDI測定那些以前不能測