源激發類型XRF的優缺點介紹
源激發類型的儀器結構簡單、緊湊，特別是放射性同位素源發出X射線是自然現象，其強度是非常穩定的。雖然有著自然衰減，但這種衰減是遵循可描述的物理規律的，也就是說是我們可以準確計算出來的，而且作為商品化儀器選用的同位素源半衰期都比較長，在短周期內這種衰減幾乎反映不出來。放射源的最大弱點在于，它發出的X射線強度小，能量分布不可調。因此可分析元素種類是受限制的，光路的幾何布置必須非常緊湊，分析時間相對要長一些，譜線處理和定量分析計算難度較大。......閱讀全文
源激發類型XRF的優缺點介紹
源激發類型的儀器結構簡單、緊湊，特別是放射性同位素源發出X射線是自然現象，其強度是非常穩定的。雖然有著自然衰減，但這種衰減是遵循可描述的物理規律的，也就是說是我們可以準確計算出來的，而且作為商品化儀器選用的同位素源半衰期都比較長，在短周期內這種衰減幾乎反映不出來。放射源的最大弱點在于，它發出的X射線
XRF的優缺點
優點 a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化
管激發型XRF儀器的特點
管激發型儀器的激發源是X射線管。與放射性同位素源相比，最大的優點在于其可調節性。通過調節管流和高壓，可以在一定范圍內改變輸出X射線的強度和分布，進而有選擇性地提高或減小對某些特定元素的激發效率，提高分析能力。再者，X射線管的輸出強度遠遠高于放射性同位素源，光路的幾何布置受限制小，可使用準直器、濾光片
WD－XRF與ED－XRF的優缺點
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
xrf可以測試哪些元素？及優缺點介紹
XRF測試即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產生的特征熒光，進行定性和定量分析。那么，XRF測試的元素有哪些呢？下面中科百測XRF測試機構為您總結出下面這些。 利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素 （F）到9
樣品在ICP源中的激發過程介紹
樣品在ICP源中的激發過程為：液體樣品經過霧化成氣溶膠，然后脫溶（固體樣品經導入）；成為固體顆粒后到達激發源，在激發源中固體顆粒被進一步氣化變成分子形態；分子經激發解離成為原子，同時光子發射——原子發射線；原子在經進一步激發離子化變為離子，在此過程中伴隨光子發射——離子線。
ESI源的優缺點
ESI源的優缺點是優點為，液相中的被檢測分子變成氣相離子時沒有經受外部能量的激發，因而不會發生裂解，故沒有碎片峰，稱為無碎片質譜，缺點，容易堵塞錐孔。ESI源非常適合檢測帶有大量電荷的分子量巨大的蛋白質，隨后，產生的離子借助噴嘴與取樣錐錐孔之間的電壓，穿過錐孔進入質量分析器。主要介紹ESI屬于大氣壓
激發濾光片的類型
激發濾光片一般說來是通過較短波長光線，用以激發熒光標本，常用有以下三種類型。⒈ 寬帶濾光片這種濾光片是有色玻璃濾光片，它的透過波長范圍較寬，如德國牌號的BG12 為蘭光激發濾光片，它的峰值為400 納米，通過范圍為320～500 納米，其他波段還有少量通過。又如德國牌號UG1，峰值為360 納米，通
XRF光譜法分析無機元素優缺點
優點1.被測樣品不需前處理，儀器操作方便、快捷，實時得出分析結果；2.對大塊樣品非破壞性、無損檢測，特別適合貴金屬成分分析；3.便攜式XRF光譜儀對固體、粉末、液體能做到現場實時分析出結果，是野外工作者很好的分析工具；4.因為不需用到任何化學試劑，整個分析過程不會對環境造成污染，同時有效保護分析人員
感染源有哪些類型？
病毒：病毒是一種非細胞性微生物，可以通過空氣、食物、水、接觸等途徑傳播。常見的病毒包括流感病毒、艾滋病病毒、乙肝病毒等。 細菌：細菌是一種單細胞微生物，可以通過空氣、食物、水、接觸等途徑傳播。常見的細菌包括大腸桿菌、沙門氏菌、鏈球菌等。 真菌：真菌是一種多細胞微生物，可以通過空氣、土壤、食物
簡述樣品在ICP源中的激發過程
樣品在ICP源中的激發過程為：液體樣品經過霧化成氣溶膠，然后脫溶（固體樣品經導入）；成為固體顆粒后到達激發源，在激發源中固體顆粒被進一步氣化變成分子形態；分子經激發解離成為原子，同時光子發射——原子發射線；原子在經進一步激發離子化變為離子，在此過程中伴隨光子發射——離子線。
X射線熒光光譜儀在ROHS檢測中的優劣勢
許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來完成作業的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優缺點。X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。 X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二
石英杯激發與空氣激發介紹
分選型流式細胞儀的一個關鍵參數是延遲時間，細胞由激光檢測點運動到偏振板所用時間為延遲時間。如上圖所示，激光檢測點可設置在流動室（石英杯激發），亦可設置在流動室外（空氣激發），對應不同的延遲時間t1和t2。那么石英杯激發、空氣中激發這兩種激發方式有何區別呢？細胞在聚集后排成一列，在流動室中速度相對較慢
關于XRF的波長介紹
元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下: λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常數。
XRF分析的基本介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
關于XRF的優點介紹
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。 非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 測試元素范圍大，WDX可在p
各種類型質譜儀器的優缺點
1913年J.J.Thomson制成第一臺質譜儀，用其發現了20Ne,22Ne同位素。1919年第一臺質譜儀是英國科學家弗朗西斯·阿斯頓于1919年制成的。阿斯頓用這臺裝置發現了多種元素同位素，研究了53個非放射性元素，發現了天然存在的287種核素中的212種，第一次證明原子質量虧損。他為此榮獲
X熒光光譜儀的優缺點及分類
??X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。優缺點優點a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟
近紅外光譜類型及優缺點
近紅外光譜儀種類繁多，根據不用的角度有多種分類方法。從應用的角度分類，可以分為在線過程監測儀器、專用儀器和通用儀器。從儀器獲得的光譜信息來看，有只測定幾個波長的專用儀器，也有可以測定整個近紅外譜區的研究型儀器；有的專用于測定短波段的近紅外光譜，也有的適用于測定長波段的近紅外光譜。較為常用的分類模
近紅外光譜類型及優缺點
近紅外光譜儀種類繁多，根據不用的角度有多種分類方法。從應用的角度分類，可以分為在線過程監測儀器、專用儀器和通用儀器。從儀器獲得的光譜信息來看，有只測定幾個波長的專用儀器，也有可以測定整個近紅外譜區的研究型儀器;有的專用于測定短波段的近紅外光譜，也有的適用于測定長波段的近紅外光譜。較為常用的分類模
XRF儀中所用的探測器主要類型有哪些？
XRF(X熒光光光譜儀)探測器是用來接收X射線并把它轉變成可測量的或可觀察的量。現在最常用的探測器有流氣式正比計數器、封閉式正比計數器、閃爍計數器以及應用于X射線熒光能譜分析上的半導體探測器。 (1)流氣式正比計數器。它主要用來探測波長在0.2~1.5nm的X射線，通常用厚2~6μm，并
關于單克隆抗體技術的類型鼠源性抗體的介紹
雜交瘤單克隆抗體制備技術的基本原理是利用聚乙二醇作為細胞融合劑，使免疫的小鼠脾細胞與具有不斷繁殖能力的小鼠骨髓瘤細胞在體外進行融合，在HAT選擇性培養基的作用下，只讓融合成功的雜交瘤細胞生長，經過反復的免疫學檢測篩選和單個細胞培養(克隆化)，最終獲得既能產生所需單克隆抗體，又能不斷繁殖的雜交瘤細
關于XRF儀器的特點介紹
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
XRF鍍層測厚儀的組成介紹
XRF光譜儀的主要部件組成為X射線管、光圈、探測器、對焦系統、相機以及樣品臺。如上圖所示。X射線管是儀器的一部分，產生照射樣品的X射線。光圈是引導X射線指向樣品的裝置的第一部分。XRF儀器中的光圈將決光斑尺寸，正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。探測器與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的
XRF鍍層測厚儀的技術介紹
XRF技術的最小檢測厚度為大約1nm。如果低于這個水平，則相應的特征X射線會淹沒于噪聲信號中，無法對其進行識別。最大范圍約為50μm左右。如果在該水平之上，則鍍層厚度將導致內層發射的X射線無法穿透鍍層而到達探測器。即厚度的任何進一步增加都不會導致更多的X射線到達探測器，因此厚度達到飽和無法測出變
選擇XRF技術的優勢介紹
相比其他分析技術，XRF具有許多優勢。 其速度較快。能夠測量多種類型的元素及其在不同類型材料中的含量濃度。此外，其屬于非破壞性技術，僅需制備少量樣品甚至完全不需要制備樣品，因此，其相比其他技術成本較低。 這也就是為什么全球這么多人選擇使用XRF技術進行日常的材料分析工作。
XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
關于XRF儀器的原理介紹
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
XRF鍍層測厚儀的相關介紹
XRF鍍層測厚儀對焦系統確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致；否則會導致結果不準確。XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶精確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以精確定位需要測量的區域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣
關于XRF的發展歷程介紹
1895年倫琴發現X射線； 1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎； 20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段； 60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅速發展，并使現場和原位X射線光譜分析成為可能