XRF分析的熔片法程序
1.加熱樣品和硼酸鹽助熔劑的混合物，直到助熔劑融化；2.繼續加熱直到樣品溶解到助熔劑中，并攪拌以使熔體均勻化；3.將熔融玻璃倒入熱模中；4.冷卻以獲得堅固的玻璃盤，無需任何其他處理即可進行X射線測量。要進行融合實驗，必須了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的準備工作以及融合程序。將考慮所有這些，并且對于不熟悉該主題的讀者，現在描述不失敗的原始融合過程。......閱讀全文
XRF分析的熔片法程序
1.加熱樣品和硼酸鹽助熔劑的混合物，直到助熔劑融化；2.繼續加熱直到樣品溶解到助熔劑中，并攪拌以使熔體均勻化；3.將熔融玻璃倒入熱模中；4.冷卻以獲得堅固的玻璃盤，無需任何其他處理即可進行X射線測量。要進行融合實驗，必須了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的準備工作以及融合程序。將考慮所有這些，
請問高頻感應熔樣機有哪些優勢？
· 采用高頻感應加熱系統； · XRF分析用玻璃熔片，AAS和ICP分析用溶液 · 高精度紅外測溫系統結合PID智能溫度控制； · 采用集操作和顯示于一體的觸摸屏人機界面； · PLC智能控制系統，可預存儲5套常用制樣程序； · 按預氧化→加熱熔化→擺動搖勻→澆鑄成型→冷卻過程設定好熔
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF光譜法分析無機元素優缺點
優點1.被測樣品不需前處理，儀器操作方便、快捷，實時得出分析結果；2.對大塊樣品非破壞性、無損檢測，特別適合貴金屬成分分析；3.便攜式XRF光譜儀對固體、粉末、液體能做到現場實時分析出結果，是野外工作者很好的分析工具；4.因為不需用到任何化學試劑，整個分析過程不會對環境造成污染，同時有效保護分析人員
XRF元素定量分析的經驗系數法介紹
經驗系數法不可避免的問題是離不開標準樣品，如果存在元素之間的吸收增強效應，為了通過最優化算法得到元素之間互相的影響系數，需要的標準樣品的個數會更多。即使有足夠多的合格標準樣品（通常是比較難的），得到的數學模型的適用范圍也會受限，通常不能超出標樣涵蓋的范圍。之所以多數X射線熒光分析儀分析的元素種類
XRF分析儀樣品制備化學富集法的介紹
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金屬陽離子與螯合物試劑反應后沉淀過濾，鰲合物沉淀劑常用的有DDTC（銅試劑）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羥基喹啉，其特點是均可與近20種元素產生螯合物沉淀。 沉淀法是加入適合于溶液中各元素的沉淀劑和共沉淀劑使之反應，然
材料成分分析利器XRF－UniQuant－獨特的無標樣分析技術
XRF（X射線熒光光譜儀）已在各類材料分析中廣泛應用，然而，在實際樣品分析中，標樣的制備是決定分析結果準確程度的重要因素。賽默飛世爾科技的UniQuant無標樣技術則可以在不需要標樣的情況下進行任何尺寸、形狀和狀態樣品的快速定性、定量、非破壞性的元素分析。2011年4月28
XRF融片壓片方法
Axios?PW型波長色散X射線熒光光譜儀（荷蘭帕納科公司），最大功率4.0?kW，最大激發電壓60?kV，最大電流125?mA，SST超尖銳陶瓷端窗（75?μm）銠鈀X射線光管，樣品交換器一次最多可放68個樣品（直徑32?mm），SuperQ?5.0高級智能化操作軟件。各元素的測量條件列于表2-1
談談熔體流動速率實驗機的主要工作程序
熔體流動速率實驗機適用于《GB/T3682-2000熱塑性塑料熔體質量流動速率和熔體體積流動速率的測定》國家標準中對規定的熱塑性塑料熔體質量流動速率的測定該標準等同采用了ISO1133:1997標準的規定。 熔體流動速率實驗機的工作程序說明: 1.試樣制備:試樣可為粉料、粒料、薄膜碎
XRF分析的基本介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
布ELISA法的主要程序
⑴ 首先把抗布氏桿菌的血清包被（吸附）在聚脂布上，并經洗滌及封閉；⑵ 加被檢樣品并于室溫下感作30分鐘，然后洗5次；⑶ 加酶標記的抗布氏桿菌抗體，于室溫下感作30分鐘，然后洗滌5次；⑷ 加入底物液顯色；⑸ 測定OD值。
用于－X－射線熒光光譜法分析的待測樣品玻璃熔片制備和測定專利獲批
國家知識產權局信息顯示，廣東中南鋼鐵股份有限公司申請一項名為“用于 X 射線熒光光譜法分析的待測樣品玻璃熔片制備方法和測定方法”的專利，公開號 CN 118777347 A ，申請日期為 2024 年 7 月。 專利摘要顯示，本發明公開了一種用于 X 射線熒光光譜法分析的待測樣品玻璃熔片的制備
全自動電熱熔樣爐應用于X熒光分析前樣品處理方案
XRF Scientific公司有著25年的熔樣技術和經驗，提供無污染的應用方案。XRF Scientific公司的命名直接體現了X射線熒光光譜法應用于分析礦物樣品的技術。 xrFuse系列是基于穩健、可靠的技術而設計的，為地礦工業高通量及長工作時間的應用而開發的一款全自動電熱熔樣爐。我們
XRF問題匯總（九）
81.為什么長石的玻璃熔片成片后放在ＸＲＦ檢測室里會破裂呢？已經是冷卻的了，如果說是關系到鉀鈉的膨脹系數的話，那樣也應該是在成片的過程中因?為系數高而應力增大才破裂，究竟是什么原因呢？檢測室的溫度是２５度，濕度在４５左右，環境的影響我想應該不是主要的．片子沒氣泡沒不熔物 A.可能是玻璃片中的各組分含
X熒光光譜儀應用于地球化學樣品的成分分析
隨著地球勘查工作的發展和區域地球化學調查工作的啟動,對地質實驗測試分析工作提出很多針對性要求,同時也面臨著復雜的分析檢測任務.地質實驗室分測試析的對象和任務要求分析測試方法具有檢出限低,檢測范圍寬,較高的準確度和精密度.地球化學樣品的成分分析方法有傳統的化學分析法,電感耦合等離子體原子發射光譜法(I
XRF檢測的理論影響系數法介紹
對多數類型的樣品，總有一些XRF無法探測到的元素（H-F）存在，往往這些超輕元素在樣品中占有一定的濃度，是樣品中基體組成部分，而其它元素的峰強度與基體組成直接相關，X射線熒光分析數據處理技術與基體校正數學模型的研究是該領域的重點，這一領域研究主要圍繞著基本參數法和理論影響系數法展開。 理論影響
程序升溫色譜法
程序升溫色譜法?programmed temperature (gas) chromatography 在氣相色譜分析中，色譜柱溫度對分離效能有重要影響，當樣品中所含組分沸程較寬時，應采用程序升溫色譜法。所謂程序升溫色譜法，是指色譜柱的溫度按照組分沸程設置的程序連續地隨時間線性或非線性逐漸升高，使柱
X?射線熒光制樣方法淺談（一）
導言： 第13期的論壇線上講座還未結束,第14期的線上講座又接踵而至,本期講座我們邀請了XRF版面的專家ljzllj先生就?XRF制樣的方法與大家一起交流切磋。ljzllj先生一直從事XRF儀器的應用等各方面的研究工作。對XRF的儀器比較熟悉。歡迎大家就X?射線熒光制樣方法的問題前來提問，也歡迎XR
關于XRF的基本分析
當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。 根據
XRF分析儀的用途
XRF分析儀用于需要辨別材料的化學成分或樣件合金牌號的應用中。便攜式XRF分析儀可在野外現場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品進行檢測。在現場進行分析可以實時提供信息，使用戶迅速做出決策。
XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
關于XRF的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
樣品制備影響XRF定量精度的介紹
XRF樣品制備簡單，但并非無需樣品處理，XRF對樣品中元素分布均勻性、樣品顆粒度、樣品表面光滑度、表面粉塵、礦物效應等有要求，這些方面都會不同程度影響分析精度，使用者可以通過相關的樣品制備方法消除或者改善這些影響，譬如：研磨、壓片、拋光、熔片等方法是XRF通常采用的樣品制備方法。
XRF測試結果分析方式
定性分析不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜
布ELISA法的操作程序
（C－ELISA） C－ELISA（Cloth-ELISA）是加拿大學者Blais,B. W.等于1989年建立的一種新型免疫檢測技術。該方法是以疏水性聚脂布（Hydrophobic Polyester Cloth）即滌綸布為固相載體，這種大孔徑的的疏水布具有吸附樣品量大，可為免疫反應提供較大的表面
斑點ELISA法的操作程序
常規的微量板ELISA比較，Dot-ELISA具有簡便、節省抗原等優點，而且結果可長期保存；但其也有不足，主要是在結果判定上比較主觀，特異性不夠高等。該方法的主要操作程序為：⑴載體膜的預處理及抗原包被 取硝酸纖維素膜用蒸餾水浸泡后，稍加干燥進行壓圈。將陰性、陽性抗原及被檢測抗原適度稀釋后加入圈中，置
布ELISA法的操作程序
（C－ELISA） C－ELISA（Cloth-ELISA）是加拿大學者Blais,B. W.等于1989年建立的一種新型免疫檢測技術。該方法是以疏水性聚脂布（Hydrophobic Polyester Cloth）即滌綸布為固相載體，這種大孔徑的的疏水布具有吸附樣品量大，可為免疫反應提供較大的表面