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  • X射線單晶衍射的簡介

    X射線單晶衍射(X-ray diffraction of single crystal)是2014年全國科學技術名詞審定委員會公布的藥學名詞,出自《藥學名詞》第二版。 當晶體被X射線照射時,晶體中各原子的散射X射線會疊加起來。當X射線為單色時,各原子的散射X射線發生干涉,在特定的方向上產生強的X射線衍射線,利用單晶體的X射線的衍射效應可測定晶體的結構。......閱讀全文

    X射線單晶衍射的簡介

      X射線單晶衍射(X-ray diffraction of single crystal)是2014年全國科學技術名詞審定委員會公布的藥學名詞,出自《藥學名詞》第二版。  當晶體被X射線照射時,晶體中各原子的散射X射線會疊加起來。當X射線為單色時,各原子的散射X射線發生干涉,在特定的方向上產生強的

    單晶X射線衍射的原理簡介

      利用晶體形成的 X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些  方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的 衍射現象。衍射X射線滿足布拉格(W.L.Brag

    單晶X射線衍射的單晶衍射儀法

    此法用射線計數儀直接記錄射線的強度。單晶衍射儀有線性衍射儀、四圓衍射儀和韋森堡衍射儀等,其中以四圓衍射儀(圖4),(見彩圖)最為通用。所謂四圓是指晶體和計數器藉以調節方位的四個圓,分別稱為φ圓、圓、w圓和2θ圓。φ圓是安裝晶體的測角頭轉動的圓;圓是支撐測角頭的垂直圓,測角頭可在此圓上運動;w圓是使圓

    單晶X射線衍射的單晶衍射儀法

    此法用射線計數儀直接記錄射線的強度。單晶衍射儀有線性衍射儀、四圓衍射儀和韋森堡衍射儀等,其中以四圓衍射儀(圖4),(見彩圖)最為通用。所謂四圓是指晶體和計數器藉以調節方位的四個圓,分別稱為φ圓、圓、w圓和2θ圓。φ圓是安裝晶體的測角頭轉動的圓;圓是支撐測角頭的垂直圓,測角頭可在此圓上運動;w圓是使圓

    x射線單晶體衍射儀的應用簡介

      晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下:  (一).晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(

    單晶X射線衍射的理論發展

      發現衍射現象  圖片  1912年勞埃等人根據理論預見,并用實驗證實了X射線與晶體相遇時能發生衍射現象,證明了X射線具有電磁波的性質,成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規則排列成的 晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同 數量級,故由

    X射線單晶體衍射儀

    X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律,也即解出

    x射線單晶體衍射儀

      X射線單晶體衍射儀X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer,簡寫為XRD)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析可以解

    x射線單晶衍射儀和多晶衍射儀的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    單晶X射線衍射的發展方向

      X射線分析的新發展,金屬X射線分析由于設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和有機材料, 納米材料測試的常規方法。而且還用于動態測量。早期多用照相法,這種方法費時較長,強度測量的精確度低。50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量準確,并可配備計算機控制等優點,已經得到廣泛的應用。但使用 單色

    X射線單晶體衍射儀的回擺法的簡介

      樣品的轉軸垂直于入射單色X射線,圍繞轉軸安裝園筒狀底片或在晶體后方,垂直于入射線安裝平板底片。若晶體的某一晶軸(如a或b,c)與轉軸平行,則在園筒狀底片上會出現平行直線,平板底片則出現上下對稱的雙曲線。若讓晶體在一個不大的角度范圍(如10)內做擺動,則能產生的衍射數量不多,衍射點不會重疊。使擺動

    X射線衍射簡介

    1912年,勞厄等人根據理論預見,證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米(pm)的原子是周期性排列的;這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”;X射線具有波動特性, 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波,并具有衍射的能力。??這一實驗成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時,

    x射線單晶體衍射儀的應用

      晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下:  (一).晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(

    X射線單晶與多晶衍射技術的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    X射線單晶體衍射儀的應用

    晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下:(一).晶體結構的成功測定,在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成多面體外形(自范性),如

    X射線單晶體衍射儀的介紹

    X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律,也即解出

    X射線衍射技術簡介

    物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法,但是X射線衍射是最有效的、應用最廣泛的手段,而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛,現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中,成為一種重要的實驗方法和結構分析手

    x射線單晶體衍射儀同步輻射

      是一種大科學裝置,設備大投資高,一般都需要政府投資,不是一般實驗室所能具備的,需要 申請立項才能使用。因此,如果能發展出高強度的實驗室光源和極高靈敏度的探測器,使在一般實驗室中也能測定生物大分子結構,則絕對是有益的。  有許多生物反應的速度是相當快的, 如血紅蛋白與一氧化碳的結合,速度在納秒級(

    單晶射線衍射儀

      單晶射線衍射儀是一種用于化學領域的分析儀器,于2004年1月1日啟用。  技術指標  額定功率:50kv 40mA。CCD探測器:62mm 4K CCD芯片,Mo 光源增益>170電子/X光子; X-射線發生器:功率3kW,Mo靶陶瓷X射線光管; 三軸(ω,2θ,φ)測角儀:φ360o旋轉≤0.

    x射線單晶體衍射儀的基本公式

      由于晶體中原子是周期排列的,其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的 平行六面體(稱 晶胞)在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊(a,b,c)及它們間的夾角(γ,α,β)所規定,這六個參數稱點陣參數或 晶胞參數,見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平

    x射線單晶體衍射儀數據的積累

      數據的積累  從前述的應用已經看出,晶體結構的測定及結構與性能關系的研究, 是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構,但還有許多未能測定,而且還不斷有新化合物,新晶體出現, 因此不斷的測定他們的結構,加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫,如:  1、劍橋結構

    X射線單晶衍射儀:探究物質結構的利器

      X射線單晶衍射儀(X-ray single crystal diffractometer),是一種利用X射線穿過單晶產生的衍射效應來測定晶體結構的實驗方法,主要功能是測定晶體結構 、分析晶體對稱性以及研究未知晶體等。其應用范圍較廣,單晶結構分析能夠揭示化合物的結構和性能間的關系,對功能材料、有機

    X射線單晶體衍射儀的基本公式

    由于晶體中原子是周期排列的,其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體(稱晶胞)在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊(a,b,c)及它們間的夾角(γ,α,β)所規定,這六個參數稱點陣參數或晶胞參數,見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行

    X射線衍射分析的簡介

      X射線衍射相分析(phase analysis of xray diffraction)利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質,都有其特定的晶體結構,包括點陣類型、晶面間距等參數,用具有足夠能量的x射線照射試樣,試樣中的物質受激發,會產生二次熒光X射線(標識X射線

    多晶x射線衍射的簡介

      用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法,也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。

    X射線衍射分析的簡介

      定義:  X射線衍射分析(X-ray diffraction,簡稱XRD),是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。  分析原理  當一束X射線入射到晶體時,首先被原子(電子)所散射,每個原子都是一個新的輻射源,向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由

    簡介x射線單晶體衍射儀派特遜函數的定義

      派特遜函數的定義  從派特遜圖上可以比較容易地得到晶體中所含重原子的位置坐標,可依此計算各衍射的相角  αHKL,將此αHKL去與實驗測得的結構振幅|FHKL|結合生成FHKL,可據此計算電子密度圖,可以定出更多原子的原子位置及修正已有的原子位置。再利用這些數據重新計算αHKL、FHKL及ρ(x

    X衍射儀和單晶X衍射儀的區別

    X射線衍射儀可以分為X射線粉末衍射儀和X射線單晶衍射儀。在傳統的X射線衍射儀器中,單晶衍射儀及粉晶衍射儀功能各別,如四圓單晶衍射儀,如果所挑選的晶體顆粒不是嚴格的單晶體(該單晶體用于準直X射線,即獲得單色的X射線),則無法進行后繼的測試研究,而粉晶衍射儀也不能進行單晶數據收集。

    X衍射儀和單晶X衍射儀的區別

    X射線衍射儀可以分為X射線粉末衍射儀和X射線單晶衍射儀。在傳統的X射線衍射儀器中,單晶衍射儀及粉晶衍射儀功能各別,如四圓單晶衍射儀,如果所挑選的晶體顆粒不是嚴格的單晶體(該單晶體用于準直X射線,即獲得單色的X射線),則無法進行后繼的測試研究,而粉晶衍射儀也不能進行單晶數據收集。

    X衍射儀和單晶X衍射儀的區別

    X射線衍射儀可以分為X射線粉末衍射儀和X射線單晶衍射儀。在傳統的X射線衍射儀器中,單晶衍射儀及粉晶衍射儀功能各別,如四圓單晶衍射儀,如果所挑選的晶體顆粒不是嚴格的單晶體(該單晶體用于準直X射線,即獲得單色的X射線),則無法進行后繼的測試研究,而粉晶衍射儀也不能進行單晶數據收集。

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