技術盛宴、百家爭鳴——2024年度北京市電子顯微學年會成功舉辦
2024年12月18日，由北京理化分析測試技術學會電子顯微學專業委員會主辦的2024年度北京市電子顯微學年會在中復大廈成功舉辦。會議旨在為推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流，來自高校、科研院所、儀器廠商等多家單位近400位專家、學者等業內人士出席本次會議。會議現場 本次會議邀請國家納米中心鄭強研究員、中科院物理所張中山教授、北京大學胡迎春高工、北京師范大學李永良副研究員等多位國內著名專家學者作先進的顯微學發展前沿報告，牛津儀器、日立、國儀量子、賽默飛等多家知名電鏡儀器廠商參展本次會議，并為與會人士介紹了電鏡產品新技術、新功能，展示了各家最新的儀器產品。 張德添、何其華、孫異臨、鄧平曄、鄭愛國、張麗娜、周濤、宋敬東8位專家共同主持了本次會議。報告人：清華大學 谷 林 教授報告題目：還原論下的電化學儲能材料 報告講述了材料科學定量化的發展歷程，......閱讀全文
球差電鏡分析
1 球差電鏡的原理 球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到
快速了解球差電鏡區別
相比傳統TEM，由于AC-TEM有效削減了像差，AC-TEM分辨率顯著提高。傳統TEM、STEM的分辨率在納米、亞納米級，而AC-TEM和AC-STEM的分辨率則能夠達到埃級和亞埃級別！分辨率的提高意味著能夠對材料進行更精細更準確的結構表征。
球差校正電鏡的優勢：
球差校正電鏡的優勢：ACTEM或者ACSTEM的最大優勢在于球差校正削減了像差，從而提高了分辨率。傳統的TEM或者STEM的分辨率在納米級、亞納米級，而ACTEM的分辨率能達到埃級，甚至亞埃級別。分辨率的提高意味著能夠更“深入”的了解材料。例如：最近單原子催化很火，我們公眾號也介紹了大量相關工作。為
球差校正透射電鏡
電子顯微鏡的分辨本領由于受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對于常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恒為正值。在40年代由于兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像
球差色差校正透射電鏡
球差色差校正透射電鏡：球差校正器經過多年的發展，在最新的五重球差校正器的幫助下，人類成功地將球差對分辨率的影響校正到小于色差。只有校正色差才能進一步提高分辨率，于是球差色差校正透射電鏡就誕生了。我們欣賞一下放置在德國Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO雙球差
球差校正透射電鏡簡介
1，前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里
球差校正透射電鏡簡介
1，前言球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里將給大家
電鏡的球差和畸變及其形成原因
1、球差：由于電子束光源通過透鏡受到偏轉，通過樣品，從物平面向下發射，形成物點孔徑角。從物點發出的射線，到達下一級透鏡又被聚集。如果透鏡有缺陷或孔徑角太大，則靠近光軸的射線和遠離光軸的射線，受到電磁場的作用就會不同，這些射線在光軸上會聚的位置不同，結果遠離光軸的射線就會在像面上形成一個最小模糊圈。此
球差校正透射電鏡ABC速成知識
了解球差校正透射電鏡，從這里開始前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納
一文讀懂球差透射電鏡
01——球差電鏡的原理及分類球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一
如何使用掃描電鏡對磁性微球進行拍照
磁性樣品，尤其是微粉樣品的掃描電鏡分析確實是個問題。能夠不做，盡量不要用電鏡做，因為損傷電鏡的可能性非常大。如果非做不可，前提是必須要有足夠的把握將樣品固定好。對于磁性微粉，這是很難的。既要固定，又要不影響形貌觀察。因為不知道你的磁性微粉的具體情況，所以也無法給出更多的制樣細節。建議：1.取樣量盡可
新一代電子顯微鏡發展趨勢
一、高性能場發射槍電子顯微鏡日趨普及和應用。場發射槍透射電鏡能夠提供高亮度、高相干性的電子光源。因而能在原子--納米尺度上對材料的原子排列和種類進行綜合分析。九十年代中期，*只有幾十臺；現在已猛增至上千臺。我國目前也有上百臺以上場發射槍透射電子顯微鏡。常規的熱鎢燈絲（電子）槍掃描電子顯微鏡，分辨率z
何時才需要用球差校正電鏡呢？
何時才需要用球差校正電鏡呢？雖然現在ACTEM和ACSTEM正在“大眾化”，但是并非一定要用這么高大上的裝備。如果你想觀察你的樣品的原子級結構并希望知道原子的元素種類（例如納米晶體催化劑等），ACSTEM將會是比較好的選擇。如果你想觀察樣品的形貌和電子衍射圖案或者樣品在TEM中的原位反應，那么物鏡校
了解球差校正透射電鏡，從這里開始
前言：球差校正透射電鏡(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高分辨率配合諸多分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。本期我們將給大家介
超3.3億！多高校發布電鏡類儀器招標公告
近日，多高校發布采購電鏡類儀器招標公告。據分析測試百科網粗略統計，12月初開始各高校電鏡類儀器累計采購預算金額已超過3.3億。詳細信息如下表：序號采購單位采購項目名稱采購品目采購需求概況預算金額(萬元)預計采購日期備注1上海交通大學A02100301顯微鏡場發射掃描電子顯微鏡詳見項目詳情400202
TEM球差
球差不完美透鏡導致的直接結果就是引入了讓顯微學者最頭疼的球差。電子的聚焦是靠洛倫茲力來實現的，在洛倫茲力的作用下，電子以旋進的方式聚焦。在TEM里有一條光軸，就和光學顯微鏡中的光軸一樣，偏離光軸時，透鏡對光的聚焦能力和靠近光軸的聚焦能力是不同的。當然了，原則上是希望穿過透鏡的光都能聚焦到焦點上。這點
分辨率最高可達0.6－nm！國儀量子超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X
#NEWS超高分辨場發射電鏡發布 近日，國儀量子在2023全國電鏡年會期間發布了全新的超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X，分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV，進一步夯實了國產高端電鏡發展的基礎。深度挖掘用戶需求 全新升級實現超強性能 國儀量子在服務客戶
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡和透射電鏡的區別
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。?它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。?其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。?在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。???掃描電鏡和透射電鏡的工作原理?從相似點開始, 這兩種設
天美受邀參加ACCSI2011，喜獲優秀產品大獎
2011年4月26日，由中國儀器儀表行業協會、中國儀器儀表學會分析儀器分會主辦，中國分析測試協會協辦的中國科學儀器行業目前最高級別的峰會—— “2011中國科學儀器發展年會(ACCSI 2011) ” 在北京京儀大酒店隆重召開。天美(中國)科學儀器有限公司受邀參加，并入圍2010年度最具
三種常見電子顯微鏡透射電鏡－、掃描電鏡、反射電鏡介紹
常見的類型主要有3種：透射電鏡 TEM、掃描電鏡SEM以及反射電鏡REM。一、透射電子顯微鏡?TEM透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的原始類型，它的主要原理是將高壓電子束引導至樣品以照亮樣品并產生樣品的放大圖像。由于透射電鏡具有原位觀察、高分辨顯像等功能，適宜觀察光學顯微鏡觀察不到的細微結構。比如：細胞、
掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSMit100（A）
標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器?(DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。?電子光學系統 ???????????????????????????????????
掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSMit100（A）
掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡??????????????????????????????????????????標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的zui新EDS檢測器?(DRY SD)
軸向球差的概念
在共軸球面系統中 ，軸上點和軸外點有不同的像差，軸上點因處于軸對稱位置，具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定，并以寬光束孔徑成像時，其像方截距隨孔徑角U（或孔徑高度h）的變化而變化，因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束，經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成
掃描電鏡“弱視”，
對材料微觀結構的觀測離不開“微觀相機”——掃描電子顯微鏡，一種高端的電子光學儀器，它被廣泛地應用于材料、生物、醫學、冶金、化學和半導體等各個研究領域和工業部門。? ??“比如，在材料科學領域，它是非常基礎的科研儀器，毫不夸張地說，材料領域70%—80%的文章都要用到掃描電鏡提供的信息。”中國科學院上
掃描電鏡介紹
?掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子
掃描電鏡簡介
掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscope, SEM) 是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及