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  • X射線光電子能譜xps圖譜分析都包括些啥?

    X光電子能譜分析的基本原理 X光電子能譜分析的基本原理:一定能量的X光照射到樣品表面,和待測物質發生作用,可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。該過程可用下式表示:hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光電子的能量;Eb:電子的結合能;Er:原子的反沖能量。其中Er很小,可以忽略。 對于固體樣品,計算結合能的參考點不是選真空中的靜止電子,而是選用費米能級,由內層電子躍遷到費米能級消耗的能量為結合能Eb,由費米能級進入真空成為自由電子所需的能量為功函數Φ,剩余的能量成為自由電子的動能Ek,式(1)又可表示為:hn=Ek+Eb+Φ (2)Eb=hn-Ek-Φ (3) 儀器材料的功函數Φ是一個定值,約為 4 eV,入射X光子能量已知,這樣,如果測出電子的動能Ek,便可得到固體樣品電子的結合能。各種原子,分子的軌道電子結合能是一定的。因此,通過對樣品產生的光子能量的測定,就可以了解樣品中元......閱讀全文

    X射線光電子能譜xps圖譜分析都包括些啥?

      X光電子能譜分析的基本原理  X光電子能譜分析的基本原理:一定能量的X光照射到樣品表面,和待測物質發生作用,可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。該過程可用下式表示:hn=Ek+Eb+Er (1)  其中:hn:X光子的能量;Ek:光電子的能量;Eb:電子的結合能;Er:原子的反沖能量

    X射線光電子能譜(-XPS)

    XPS:X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量,而EDS不能測價態,且測試的深度為幾十納米到幾微米,基本上只能定性分析,不好做定量分析表面的元素含量。?原理:用X射線去輻射樣品,使原子或分子

    XPS圖譜解釋

    (1)譜線識別X射線入射在樣品上,樣品原子中各軌道電子被激發出來成為光電子。光電子的能量統計分布(X射線光電子能譜)代表了原子的能級分布情況。不同元素原子的能級分布不同,X射線光電子能譜就不同,能譜的特征峰不同,從而可以鑒別不同的元素。電子能量用E = Enlj 表示。光電子則用被激發前原來所處的能

    X射線光電子能譜(XPS)的簡介

    XPS是重要的表面分析技術之一,是由瑞典Kai M. Siegbahn教授領導的研究小組創立的,并于1954年研制出世界上第一臺光電子能譜儀,1981 年,研制出高分辨率電子能譜儀。他在1981年獲得了諾貝爾物理學獎。

    XPS圖譜之鬼峰

    有時,由于X射源的陽極可能不純或被污染,則產生的X射線不純。因非陽極材料X射線所激發出的光電子譜線被稱為“鬼峰”。

    XPS圖譜之衛星峰

    常規X射線源(Al/Mg?Kα1,2)并非是單色的,而是還存在一些能量略高的小伴線(Kα3,4,5和Kβ等),所以導致XPS中,除Kα1,2所激發的主譜外,還有一些小的伴峰。

    XPS圖譜荷電校正

    當用XPS測量絕緣體或者半導體時,由于光電子的連續發射而得不到電子補充,使得樣品表面出現電子虧損,這種現象稱為“荷電效應”。荷電效應將使樣品表面出現一穩定的電勢Vs,對電子的逃離有一定束縛作用。因此荷電效應將引起能量的位移,使得測量的結合能偏離真實值,造成測試結果的偏差。在用XPS測量絕緣體或者半導

    X射線光電子能譜儀(XPS)的發展

      X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析電子能譜(ESCA)。該方法首先是在六十年代由瑞典科學家K.Siebabn 教授發展起來的。這種能譜最初是被用來進行化學元素的定性分析,現在已發展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態分析的重要手段。此外,配合離子束剝離技術和變角XPS技術,還可以進行

    【技術分享】X射線光電子能譜分析(XPS)

     XPS的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能/束縛能bindingenergy,(Eb=hv光能量-Ek動能-W功函數)為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得待測物組成

    XPS圖譜之自旋軌道分裂

    由于電子的軌道運動和自旋運動發生耦合后使軌道能級發生分裂。對于l>0的內殼層來說,用內量子數j(j=|l±ms|)表示自旋軌道分裂。即若l=0?則j=1/2;若l=1則j=1/2或3/2。除s亞殼層不發生分裂外,其余亞殼層都將分裂成兩個峰。

    XPS圖譜之全譜分析

    全譜分析一般用來說明樣品中是否存在某種元素。比較極端的,對于某一化學成分完全未知的樣品,可以通過XPS全譜分析來確定樣品中含有哪些元素(H和He除外)。而更多情況下,人們采用已知成分的原料來合成樣品,然后通過XPS全譜來確定樣品中到底含有哪些元素;或者對某一已知成分的樣品進行某種處理(摻雜或者脫除)

    X射線光電子能譜技術(XPS)的系統結構原理

    X射線源是用Al或Mg作陽極的X射線管。 它們的光子能量分別是1486 eV和1254 eV 。 安裝過濾器(或稱單色器)是為了減小光子能量分散。X射線光電子能譜儀(系統)結構原理離子槍的作用一方面是為了濺射清除樣品表面污染,以便得到清潔表面,從而提高其分析的準確性。另一 方面,可以對樣品進行濺射剝

    X射線光電子能譜技術(XPS)的基本組件

    X射線源超高真空不銹鋼艙室及超高真空泵電子收集透鏡電子能量分析儀μ合金磁場屏蔽電子探測系統適度真空的樣品艙室樣品支架樣品臺樣品臺操控裝置

    X射線光電子能譜技術(XPS)的的儀器結構

    XPS儀器設計與最早期的實驗儀器相比,有了非常明顯的進展,但是所有的現代XPS儀器都基于相同的構造:進樣室、超高真空系統、X射線激發源、離子源、電子能量分析器、檢測器系統、荷電中和系統及計算機數據采集和處理系統等組成。這些部件都包含在一個超高真空(Ultra High Vacuum,簡稱為UHV)封

    XPS圖譜怎樣確定元素價態

    XPS圖譜怎樣確定元素價態分峰后,得到的峰的結合能與標準結合能能對照,確定其價態。

    X射線能譜技術(XPS)在造紙工業中的應用

    簡單介紹了X射線能譜技術(XPS)的作用機理及其在紙張表面涂層結構、纖維素和木素含量、造紙助劑及紙病分析等方面的應用。?

    X射線光電子能譜技術(XPS)的歷史、原理及應用

    一、XPS的歷史X?射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析電子能譜(ESCA)。該方法首先是在六十年代由瑞典科學家K.Siebabn?教授發展起來的。這種能譜最初是被用來進行化學元素的定性分析,現在已發展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態分析的重要手段。此外,配合離子束剝離技術和變角XPS?

    X射線熒光(XRF):理解特征X射線

      什么是XRF?   X射線熒光定義:由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級(或熒光)X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。  XRF如何工作?   當高能光子(X射線或伽馬射線)被原子吸收,內層電子被激發出來,變成“光電子”,形成空穴,原子處于激發態。外層電子向內層躍遷,發射出能量等于兩級能

    XPS圖譜之光電子譜線

    每一種元素都有自己特征的光電子線,它是元素定性分析的主要依據。譜圖中強度最大、峰寬最小、對稱性最好的譜峰,稱為XPS的主譜線。

    XPS圖譜之俄歇電子譜線

    電子電離后,芯能級出現空位,弛豫過程中若使另一電子激發成為自由電子,該電子即為俄歇電子。俄歇電子譜線總是伴隨著XPS,但具有比XPS更寬更復雜的結構,多以譜線群的方式出現。特征:其動能與入射光hν無關。

    XPS圖譜如何進行荷電校正

    最常用的,人們一般采用外來污染碳的C1s作為基準峰來進行校準。以測量值和參考值(284.8 eV)之差作為荷電校正值(Δ)來矯正譜中其他元素的結合能。具體操作:1) 求取荷電校正值:C單質的標準峰位(一般采用284.8 eV)-實際測得的C單質峰位=荷電校正值Δ;2)采用荷電校正值對其他譜圖進行校正

    軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量

    本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Z箍縮X射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖X射線能量進行了測量并討論了其結果。

    X射線光電子能譜技術(XPS)的系統基本原理

    XPS方法的理論基礎是愛因斯坦光電定律。用一束具有一定能量的X射線照射固體樣品,入射光子與樣品相互作用,光子被吸收而將其能量轉移給原子的某一殼層上被束縛的電子,此時電子把所得能量的一部分用來克服結合能和功函數,余下的能量作為它的動能而發射出來,成為光電子,這個過程就是光電效應。該過程可用下式表示:h

    X射線光電子能譜技術(XPS)的結構和使用方法

    一、超高真空系統超高真空系統是進行現代表面分析及研究的主要部分。XPS譜儀的激發源,樣品分析室及探測器等都安裝在超高真空系統中。通常超高真空系統的真空室由不銹鋼材料制成,真空度優于1×10-9?托。在X射線光電子能譜儀中必須采用超高真空系統,原因是(1)使樣品室和分析器保持一定的真空度,減少電子在運

    X射線管中X射線的產生原理

    實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極(就稱靶極)用高熔點金屬制成(一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料).用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.

    X-射線激光

    X 射線激光指的是 XFEL (x-ray free-electron laser),X 射線自由電子激光。而這種激光,是將自由電子激光技術(FEL)產生的激光,拓展到 X 射線范圍內而產生的一種 X 射線激光。這種激光的強度可達傳統方法產生的激光亮度的十億倍,因此可讓較小晶體產生出足夠強的衍射圖樣

    X射線光譜

    1914年,英國物理學家莫塞萊(Henry Moseley,1887-1915)用布拉格X射線光譜儀研究不同元素的X射線,取得了重大成果。莫塞萊發現,以不同元素作為產生X射線的靶時,所產生的特征X射線的波長不同。他把各種元素按所產生的特征X射線的波長排列后,發現其次序與元素周期表中的次序一致,他稱這

    X射線原理

    X射線定義X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流,是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。X射線具有很高的穿透本領,能透過許多對可見光不透明的物質,如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光,使照相底片

    X射線治療

      X射線應用于治療[7],主要依據其生物效應,應用不同能量的X射線對人體病灶部分的細胞組織進行照射時,即可使被照射的細胞組織受到破壞或抑制,從而達到對某些疾病,特別是腫瘤的治療目的。

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