電子探針儀與掃描電鏡有何異同
透射電子顯微鏡 (transmission electron microscopy﹐簡寫為TEM)。 構造原理 ： 電子顯微鏡的構造原理與光學顯微鏡相似﹐主要由照明系統和成像系統構成(圖1 光學顯微鏡與電子顯微鏡的對比 )。照明系統包括電子槍和聚光鏡。鎢絲在真空中加熱并在電場的作用下發射出電子流﹐經聚光鏡會聚﹐照射到樣品上。成像系統主要是物鏡和投影鏡﹐后者相當于光學顯微鏡中的目鏡。從樣品上物點發射出的散射電子波﹐經過物鏡的聚焦成像作用在其像面上產生一次放大像﹐再經過投影鏡在熒光屏上產生二次放大像﹐可供直接觀察或拍攝相片。在電子顯微鏡中所有透鏡都是磁透鏡﹐利用強磁場使電子束聚焦。 分辨極限 光學顯微鏡的分辨極限受所用光波波長的限制﹐大約相當于波長的一半。可見光的波長為0.4～0.7微米﹐因此不能觀察小于0.2微米的細節﹐放大倍數不過一兩千倍。電子的運動也具有波動特征﹐加速電壓越高﹐波長越短。下列是常用的一些加速電壓與電子......閱讀全文
電子探針儀與掃描電鏡有何異同？
電子探針儀，學名應該是掃描隧道顯微鏡（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一個針尖在離樣品表面極近的位置慢慢劃過，樣品和針尖上加有恒定電壓，隨著針尖和樣品起伏不平的表面原子距離的改變，二者間的電流會有變化，記錄這個電流的變化進行處理后，可以得到表面的形
電子探針儀與掃描電鏡有何異同
二者最主要的不同是其工作原理不同。電子探針儀，學名應該是掃描隧道顯微鏡（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一個針尖在離樣品表面極近的位置慢慢劃過，樣品和針尖上加有恒定電壓，隨著針尖和樣品起伏不平的表面原子距離的改變，二者間的電流會有變化，記錄這個電流的變
電子探針儀與掃描電鏡有何異同
透射電子顯微鏡 (transmission electron microscopy﹐簡寫為TEM)。 構造原理 ： 電子顯微鏡的構造原理與光學顯微鏡相似﹐主要由照明系統和成像系統構成(圖1 光學顯微鏡與電子顯微鏡的對比 )。照明系統包括電子槍和聚光鏡。鎢絲在真空中加熱并在電場的作用下發射出電
掃描電鏡與電子探針的區別
電子探針儀，學名應該是掃描隧道顯微鏡（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一個針尖在離樣品表面極近的位置慢慢劃過，樣品和針尖上加有恒定電壓，隨著針尖和樣品起伏不平的表面原子距離的改變，二者間的電流會有變化，記錄這個電流的變化進行處理后，可以得到表面的形貌像
掃描電鏡與電子探針的區別
掃描電鏡和電子探針的根本區別在于電子束流:電子探針的束流(指打在樣品表面的電流)要比掃描電鏡大幾個數量級.由此造成:電子探針的空間分辨率差,二次電子和背散射電子分辨率差.如果要求不高, 電子探針可以當作掃描來用.
掃描電鏡SEM與電子探針EPMA對比總結
一、EPMA相對于SEM，(平臺方面)：1.可以大束流，計數率與束流成正比；2.束流控制和穩定性更好；3.EPMA有光學顯微鏡控制樣品高度。二、EPMA(WDS)與EDS，(EPMA標配WDS，SEM選配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一個數量級；2.EPMA的靈敏度優于EDS，測試微量元素時
掃描電鏡SEM與電子探針EPMA對比總結
一、EPMA相對于SEM，(平臺方面)：1.可以大束流，計數率與束流成正比；2.束流控制和穩定性更好；3.EPMA有光學顯微鏡控制樣品高度。二、EPMA(WDS)與EDS，(EPMA標配WDS，SEM選配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一個數量級；2.EPMA的靈敏度優于EDS，測試微量元素時
電子探針譜儀概述
原理：利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜。根據特征X射線的波長（或能量）進行元素定性分析；根據特征X射線的強度進行元素的定量分析。 適合分析材料:金屬及合金，高分子材料、陶瓷、混
電子探針和掃描電鏡能拍什么樣的照片
電子探針和掃描電鏡到底能拍啥子樣的照片，這些照片能看出樣品的物相組成嗎？回答是電子探針可拍攝SEM（二次電子照片）、BSE-COMPO（背散射成份像）、BSE-TOPO（背散射凹凸像）、X-ray（特征X射線像）。另外，就是不能夠通過這些照片看出物相組成，雖然這些照片（特別是BSE-COMPO）對鑒
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針顯微分析的原理
用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征x射線。 分析特征x射線的波長(或特征能量)即可知道樣品中所含元素的種類(定性分析)。 分析x射線的強度，則可知道樣品中對應元素含量的多少(定量分析)。 電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測器部分使用的是x射線譜儀，
電子探針儀的相關介紹
電子探針儀是一種用于物理學、材料科學領域的分析儀器，于2017年06月05日啟用。 技術指標 1. 二次電子像分辨率：5nm，背散射電子像分辨率：20nm（拓撲像、成分像）； 2. 加速電壓：0 ～ 30kV；束流范圍：10-5～ 10-12A；圖像放大倍數：×40～×300,000；
關于電子探針X射線顯微分析儀的結構特點介紹
電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方
電子探針射線顯微分析和場發射掃描電鏡有什么不同？
簡單說說，可能不規范。所謂的場發射掃描電鏡是指，相較于傳統的鎢燈絲光源而言，其采用更了為先進的肖脫基場發射光源。采用場發射光源后電子束能量更強，二次電子相（也就是我們平時所說的掃描照片）更加清晰，放大倍數在理想的情況下可以達到10萬倍以上。同時，在進行EBSD的測試中也具有相當的優勢。電子探針，即E
關于“X射線能譜定量分析通則”國家標準制訂的幾個問題
Si(Li)探測器類的 X 射線能譜儀已廣泛地應用于電子探針和掃描電鏡的分析領域,據不完全統計, 我國大約有500多臺 X 射線能譜儀與電子探針或掃描電鏡(包括透視電子顯微鏡)聯用,已成為最為主要的微區元素分析的工具,發揮了重要的作用。但也存在著分析結果上的明顯缺陷,嚴重地影響定量分析的質量,并導致
金相組織和成份分布檢測任務能否通過電子探針來完成
電子探針的照片不能直接用于鑒定金相組織和成分分布測試，下面細說。小編不是冶金材料專業，這兒搜了一個關于金相組織的概念。金相組織是指，金屬組織中化學成分、晶體結構和物理性能相同的組成，其中包括固溶體、金屬化合物及純物質。這個概念說明同一金相組織包括三層含義：化學成份相同，晶體結構相同和物理性能相同。物
電子探針射線顯微分析和場發射掃描電鏡的不同區別
所謂的場發射掃描電鏡是指，相較于傳統的鎢燈絲光源而言，其采用更了為先進的肖脫基場發射光源。采用場發射光源后電子束能量更強，二次電子相（也就是我們平時所說的掃描照片）更加清晰，放大倍數在理想的情況下可以達到10萬倍以上。同時，在進行EBSD的測試中也具有相當的優勢。 電子探針，即EPMA, 是一
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照
簡述掃描電子顯微鏡的功能特性
可以通過電子學方法有效地控制和改善圖像質量, 如亮度及反差自動保持, 試樣傾斜角度校正, 圖象旋轉, 或通過Y調制改善圖象反差的寬容度, 以及圖象各部分亮暗適中。采用雙放大倍數裝置或圖象選擇器, 可在熒光屏上同時觀察放大倍數不同的圖象。? 可進行綜合分析。裝上波長色散X射線譜儀(WDX) 或能
電子光學系統的結構及功能特點
該系統為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量，足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線的激發源。為此，一般也采用鎢絲熱發射電子槍和2-3個聚光鏡的結構。 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流（在10-9-10-7A范圍），常用的加速電壓為
掃描電鏡的主要類型
?? 20世紀70年代以來，掃描電鏡的發展主要在：不斷提高分辨率，以求觀察更精細的物質結構及微小的實體以至分子、原子;研制超高壓電鏡和特殊環境的樣品室，以研究物體在自然狀態下的形貌及動態性質;研制能對樣品進行綜合分析(包括形態、結構和化學成分等)的設備。 截止到目前，科學界已成功研制出的設備有典型
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
電子探針的主要用途
電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發出特征X射線，按其波長及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域，最小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數3（鋰）至92（鈾）。絕對感量可
電子探針的主要用途
電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發出特征X射線，按其波長及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域，最小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數3（鋰）至92（鈾）。絕對感量可
掃描電子顯微鏡的技術特點
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀，但由于其本身具有許多獨特的優點，發展速度是很快的。1 儀器分辨率較高，通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細節，采用LaB6電子槍，可以進一步提高到3nm。2 儀器放大倍數變化范圍大，且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察，同時在高放大倍
掃描電子顯微鏡主要特點
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀, 但由于其本身具有許多獨特的優點, 發展速度是很快的。1 儀器分辨率較高, 通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細節, 采用LaB6電子槍, 可以進一步提高到3nm。2 儀器放大倍數變化范圍大, 且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察,
掃描電子顯微鏡成象特點
? 掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀，但由于其本身具有許多獨特的優點，發展速度是很快的。 儀器分辨率較高，通過二次電子象能夠觀察試樣表面6nm左右的細節，采用LaB6電子槍，可以進一步提高到3nm。 儀器放大倍數變化范圍大，且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察，同時在高放
掃描電子顯微鏡的技術特點
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀，但由于其本身具有許多獨特的優點，發展速度是很快的。?1 儀器分辨率較高，通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細節，采用LaB6電子槍，可以進一步提高到3nm。?2 儀器放大倍數變化范圍大，且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察，同時在高放
關于掃描電鏡的特點介紹
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀, 但由于其本身具有許多獨特的優點, 發展速度是很快的。 1 儀器分辨率較高, 通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細節, 采用LaB6電子槍, 可以進一步提高到3nm。 2 儀器放大倍數變化范圍大, 且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場